基于STM32光栅细分算法在指示表检定仪上的应用.pdfVIP

2014年 11月 机床与液压 NOV．2014 第42卷 第21期 MACHINE T0OL HYDRAULICS Vo1．42No．21 DOI：10．3969／j．issn．1001—3881．2014．21．034 基于 STM32光栅细分算法在指示表检定仪上的应用 刘川，张恕远 (西华大学数控研究所，四川成都610039) 摘要：针对光栅测长在指示表检定仪上的应用缺陷，提出了一种光栅位移高精度细分的软件实现方法，在 STM32上编 程对光栅的两路正交正弦信号进行采集和分析，实现莫尔条纹可逆计数和细分。该方法省去了计数和细分的外围硬件电 路，使得系统简单可靠、成本低。通过对栅距为20 m的光栅进行200细分的实验研究，并采用Renishaw激光干涉仪检验 该方法的细分精度，结果表明其精度满足要求。 关键词：STM32；光栅细分；指示表检定仪；精度 中图分类号：哪 !1 文献标识码：A 文章编号：1001—3881(2014)20—129—3 ApplicationofGratingSubdivisionAlgorithm inCalibratorofDialGaugeBased onSTM32 LIUChuan．ZHANG Shuyuan (CNCTechnologicalDevelopingInstitute，XihuaUniversity，ChengduSichuan610039，China) Abstract：Aimedattheshortcominginapplicationofgratingincalibratorofdialgauge，amethodtosubdividegratingdisplace- mentwithhighprecisionwasproposedwhichisrealizedviasoftware．ThroughprogrammingonSTM32，thetwoorthogonalsinusoidal signalsonrgatingweresampledandanalyzedtoachievereversiblecountingandsubdivisionofmoirefringe．Thergeatadvantageof methodwastheneedlessofcountingandsubdividingcircuitthusmakingthesystem simple，reliableandcost-effective．Anexperiment researchwasconductedtosubdividingthe20 m rasterpitchinto200 folds，andRenishaw laserinterferometertestdemonstratedthe precisionofthemethod．Theresultsshowthattheprecisionmeetstherequirement． Keywords：STM32；Subdivisionofrgating；Calibratorofdialgauge；Precision 0 前言 1 系统硬件结构 指示表检定仪是用来检定指示表准确度的仪器， 系统硬件结构如 图 1所示 ，光栅细分系统 以 在仪表生产企业和计量检定技术机构，需要对指示表 STM32FlO3RBT6为主控单元，主要是它使用ARM 内 各项技术指标进行检定 ，要求检定仪实现0．1 m 核，主频较高、处理能力较强，满足细分的采集计算 的分辨率，目前检定仪多用光栅尺作为位移传感器实 和显示的动态要求。 现检定。现代光栅是用精密的刻划机在玻璃或金属片 ．光电池