第二节 晶粒度检验.ppt

第二章 晶粒度检测 概述 晶粒度直接关系到相关材料的物理与化学性能。 晶粒度：??晶粒度指多晶体内晶粒的大小量度。 用晶粒号、晶粒平均直径、单位面积或单位体积内的晶粒数目定量表征。 由美国材料试验协会(ASTM)制定的、并被世界各国采用的一种表示晶粒大小的方法为:???? 实际检验时，一般采用放大100倍的组织与标准晶粒号图片对比的方法判定。  奥氏体的晶粒度 表示方法为：设(n)为放大100倍时每平方英寸（645mm2）面积内的晶粒数,用N表示晶粒大小的级别（晶粒度）则： n=2N-1 若n为放大100倍时每1mm2面积内的晶粒数则 n=2N+3 晶粒越细，n越大，N也越大 一般将N小于4的称为粗晶粒，5～8称为细晶粒，8以上称为超细晶粒。 起始晶粒度：加热转变终了时所得的奥氏体晶粒的大小。 实际晶粒度：实际加热条件下得到的奥氏体晶粒度或从钢材上截取试样所测得的晶粒大小) 本质晶粒度：加热（930±10）℃、保温3～8h，冷却，与标准晶粒度等级图比较，确定的试样的晶粒度，本质晶粒度代表钢的晶粒长大倾向 一、奥氏体晶粒的显示 对于碳素钢和合金钢，由于在室温条件下，奥氏体组织一般已经不存在了（除奥氏体钢外），奥氏体晶粒度的测量是采用许多原理、构想，通过间接的形式显示示出来，得以知道材料的奥氏体晶粒度。所以，一旦在奥氏体已经发生转变不存在的条件下，需要再次提到前面的、高温条件下的奥氏体的时候，可以简单地直接说：奥氏体（晶粒），而不必特别说明是（原）奥氏体（晶粒）。但是，如果室温情况下，涉及到需要描述高温奥氏体化过程中奥氏体的晶界的位置在室温情况下的状况的时，最好采用“原奥氏体晶界”的说法。 严格说，对于铁素体钢来讲，室温的时候显示出来的只是奥氏体晶界曾经稳定存在过的位置。室温的情况下，奥氏体晶粒的显示所依据的一般原理是：材料从奥氏体化温度冷却下来的过程中，沿着奥氏体晶界位置出现了呈现网状分布的，并且室温情况下可以稳定存在的其他物相、组织组成物；或者某种成分的偏聚。随之，在室温条件下间接勾画出了高温条件下稳定存在的奥氏体的晶粒形貌，从而可以在奥氏体已经不存在的情况下，依然可以清楚地了解奥氏体的晶粒大小。 奥氏体晶粒的显示方法，主要根据国家标准GB6394-86(金属平均晶粒度测定法)规定使用方法为：渗碳法、氧化法，网状铁素体法、网状渗碳体法及晶界边界腐蚀法等。 奥氏体钢的晶粒度显示： 1）、奥氏体钢的实际晶粒度取决于原热处理状态。 2）、考虑到奥氏体钢出现孪晶会混淆晶粒计数，显示晶粒形貌应采用适当的腐蚀剂，使孪晶显示尽量降到最低的程度。 晶界腐蚀法最常用的试剂为100ml饱和苦味酸水溶液+0.5~1%烷基磺酸钠，或100ml饱和苦味酸水溶液+0.5~1%白猫洗洁剂，腐蚀2~5分钟。 1、渗碳体法 适用于测定渗碳钢的奥氏体晶粒度。 具体方法为： 将试样装入盛有渗碳剂的渗碳炉中，在930℃±10℃加热，保温6h，保证获得1mm以上的渗碳层，并使表层具有过共析成分。试样以缓慢的速度炉冷至下临界温度以下，足以在渗碳层的过共析区的奥氏体晶界上析出渗碳体网，试样冷却后切取新切面，经磨制和腐蚀，显示出过共析区奥氏体晶粒形貌。 2、氧化法 氧化法：是利用氧原子在高温下向晶内扩散晶界优先氧化的特点来显示奥氏体晶粒大小的方法。 具体方法为： 试样经过抛光后，将抛光面朝上置于空气炉中加热，C%0.35%钢的试样在900℃±10℃加热， C%0.35%钢的试样在860℃±10℃加热，保温1h，然后淬入水冷。根据氧化情况，试样适当倾斜10～15进行研磨和抛光，尽可能完善显示出氧化层奥氏体晶粒。 腐蚀：硝酸酒精，但为了显示清晰，可用15℅盐酸酒精溶液进行浸蚀。 3、网状铁素体法 C%在0.25%～0.60%碳素钢和合金钢，除非另有规定，一般在C%0.35%钢的试样在900℃±10℃加热， C%0.35%钢的试样在860℃±10℃加热，至少保温30min，然后空冷或水冷。 在此范围内碳含量较高的碳钢和C%0.40%的合金钢需调整冷却方法，以便在奥氏体晶界上析出清晰的铁素体网。在此种情况下，试样在硬化加热的温度保持必要的时间后，将温度降至 730℃±10℃，保温10min，随后淬油或淬水。 试样经磨制和腐蚀后，通过沿晶界分布的铁素体网显示奥氏体晶粒形貌。 4、网状渗碳体法 过共析钢（一般含碳大于1.00%的碳钢），如没有特别规定，均在820+10℃下加热。至少保温30分钟，以足够缓慢的速度随炉冷却至低于临界温度以下，使奥氏体晶界上析出渗碳体网。