实验1门电路的逻辑功能测试.docVIP

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2017-05-20 发布于北京
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实验1门电路的逻辑功能测试.doc

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实验1门电路的逻辑功能测试

河南工程学院学生实验报告系别课程名称电工电子技术班级实验名称实验一门电路的逻辑功能测试姓名实验时间学号指导教师栗科峰报告内容一、实验目的和任务 1、测试TTL集成芯片中的的逻辑功能。了解测试的方法与测试的原理。 74LS86 二输入端四异或门三、实验内容和数据记录依次选用芯片74LS00、74LS86做实验，在实验箱IC插座模块找到相应管脚数目的IC插座，插上并保持连接正常。对照相应芯片引脚图，按照芯片的管脚分布图接线，注意确保电源VCC（+5V）输入脚和地输入脚的连接，芯片输入端连接到逻辑电平输出单元，通过逻辑电平输出单元控制输入电平，当逻辑输出高电平时对应的发光二极管亮，否则不亮。芯片输出端连接到逻辑电平显示单元，输出高电平时对应的发光二极管亮，否则不亮。分别列出芯片74LS00、74LS86的真值表。按照芯片各逻辑门的真值表检验芯片的逻辑功能