第5章节智能仪器可靠性与可测试性设计”.pptVIP

§3 可测试性概述 可测试性与可测试性设计 测试性要求 测试方案 可测试性设计优点 可测试性 可测试性（Testability）是指产品能够及时准确地确定其自身状态（如可工作，不可工作，性能下降等）和隔离其内部故障的设计特性。 可测试性包括三个基本要素 : 可控制性(Controllability) 可观测性(Observability) 可预见性(Predictability) 二. 测试性要求 在尽可能少地增加硬件和软件的基础上，以最少的费用使产品获得所需的测试能力，简便、迅速、准确地实现检测和诊断。 1 ．定性要求 （ 1 ）合理划分产品单元。根据维修级别的要求，把系统划分为易于检测和更换的两个单元。 （ 2 ）合理设置测试点。 （ 3 ）合理选择测试方法。综合权衡，正确确定测试方案，根据具体情况选择自动、半自动、人工测试、机内、外部测试设备等。 （ 4 ）兼容性。尽可能选用标准化的、通用的测试设备和附件。 2 ．定量要求 常用的测试性的定量指标有故障检测率、故障隔离率、虚警率等测试性参数。 （ 1 ）故障检测率（ ）：被测试项目在规定时间内发生的所有故障，在规定条件下，用规定的方法能够正确检测出的百分数。即 式中 N T — 在规定工作时间 T 内发生的全部故障数； N D — 在规定条件下用规定方法正确检测出的故障数。 （ 2 ）故障隔离率（ ）： 被测试项目在规定时间内已被检出的所有故障，在规定条件下，用规定的方法能够正确隔离到规定个数（ N L ）可更换单元以内的百分数。即 式中 N L — 在规定条件下用规定方法正确隔离到≤ L 个可更换单元的故障数 优点： 1．提高故障检测的覆盖率； 2．缩短仪器的测试时间； 3．可以对仪器进行层次化的逐级测试 4．降低仪器的维护费用。 问题 1．额外的软/硬件成本； 2．系统设计时间增加。 RAM测试设计 1 ）固定模式测试 固定模式测试 RAM 的基本思想就是将可能出现的每一个数据，写入要测试的 RAM 单元中，而后再读出加以比较，判断 RAM 工作是否可靠。对以字节编址的 RAM 单元，要写入并读出比较的数据从 00H 直到 FFH 共 256 个。 固定模式 RAM 自检程序的主要缺点是：由于每次写入要自检 RAM 区的每一个存储单元的数据都是相同的，因此， RAM 的连桥故障将难以发现。同时，这种自检程序的执行时间较长。 RAM测试设计 2 ） 游动模式自检 这种方法有一个致命的弱点，就是这种自检程序执行时间过长。 A/D,D/A测试 思考题 1.若3个可靠度为0.9的仪器部件串联构成系统，系统的可靠度为多少？若并联构成系统，系统的可靠度又为多少？ 6-7 7-1 * * 第五章 智能仪器可靠性与可测试性设计 主要内容： 可靠性概述 可靠性设计 可测试性概述 §1 可靠性概述 可靠率是指在规定条件下和规定时间内智能仪器完成所规定任务的成功率。 R(t)= S(t)/N 其中：N—仪器总台数 S(t)—正常工作台数 一、可靠性的基本概念 一、可靠性的基本概念 失效率也称瞬时失效率或称故障率，是指智能仪器运行到t时刻后单位时间内发生故障的智能仪器台数与t时刻完好智能仪器台数之比。 将上式写成微分形式得： 理论上， 是不随时间变化的 对上式积分得： 可见，其符合指数规律。当某一时间的可靠性R(t)已知时失效率也可用下式计算：λ=γ/T 其中：γ—仪器失效数 T —仪器运行台数与运行时间的乘积 浴盆曲线 早期故障期 耗损故障期 偶然故障期 λ(t)(失效率) 使用寿命 规定的失效率 a b t(时间) 0 早期故障 原因：设计不当与工艺上的缺陷 措施：元器件筛选、老化和整机加速试验 偶然故障期 原因：随机因素影响 仪器最佳使用期，也是可靠性技术充分发挥作用的时期 耗损故障期 原因：元器件寿命 措施：按元器件寿命统计分布规律，预先更换 预防性维护，可以延长系统的实际使用寿命 仪器的平均失效率具有与元器件失效变化相同的规律 λ(t)(失效率) 使用寿命期 0 t(时间) 新浴盆曲线 初始期 衰老期 平均故障间隔时间 MTBF或称为平均无故障时间(亦称故障前平均时间)MTTF。 前者用来描述可修复的仪器 后者用于描述不可修复的仪器 一般情况下，都用