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一种有效的片上系统测试数据压缩算法
! 年! 月 西安电子科技大学学报（自然科学版） X98- !
第’’ 卷. 第) 期 . !#$%’. (. )*+*%. #%*,-$.*/0 . \3@- ’’. ]3- )
一种有效的片上系统测试数据压缩算法
方建平，郝. 跃
（西安电子科技大学 宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室，陕西 西安. , ), )）
摘要：测试数据的规模和容量直接影响了片上系统的测试成本，故提出了一种测试数据编码的压缩算
法———/01 2345- 该方法采用不等间距的编码方式，根据测试数据中游程长度的统计分布情况来调整各
!
组数据的大小，从而提高测试数据的压缩率，降低了测试成本- 为了使编码算法对应的解码电路的硬件
开销最小化，该算法还引入了前后缀标识位的概念，这样可减小解码电路的规模和复杂度- 对672(7%+
891:;4= 电路的实验结果表明，采用/01 2345 编码方式的压缩效率要比?3@348 等编码方法好，而且
!
实现方式简单-
关键词：测试数据压缩；哈夫曼编码；?3@348 编码；/01 2345 编码
!
中图分类号：AB’+)- ,. . 文献标识码：(. . 文章编号：))$!C （! ）)$)$C
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