TTL门电路的逻辑功能测试.docVIP

学生实验报告 系别 电子工程系 课程名称 《数字逻辑设计及应用》实验 班级 实验名称 TTL门电路的逻辑功能测试 姓名 实验时间 2010年　 月　 日 学号 指导教师 报 告 内 容 一、实验目的和任务 1、测试TTL集成芯片中的与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。 2、了解测试的方法与测试的原理 二、实验原理介绍 实验中用到的基本门电路的符号为： 在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑功能。 三、实验内容和数据记 1、将74LS08与门、74LS32或门、74LS00与非门、74LS02或非门 、74LS86异或门的输入端分别接逻辑电平输出单元，相应的输出端接逻辑电平显示单元。（发光表示1，不发光表示0） 2、按“实验电路接线的次序和方法”检查无误，即可进行实验。 3、记住：电源=+5V，正确处理闲置端。 4、改变逻辑电平开关的组态，观察输出端的状态。 5、对输入、输出的状态作记录,填写真值表。 四、实验结论与心得 对照附录的相应芯片的引脚图，按照芯片的管脚分布图接线，得到如下各芯片的真值表： 输入A 输入B 输出Y 0 0 0 0 1 1 1 1 1 1 0 1 输入A 输入B 输出Y 0 0 0 0 1 0 1 1 1 1 0 0 74LS08 74LS32 74LS00 输入A 输入B 输出Y 0 0 1 0 1 1 1 1 0 1 0 1 输入A 输出Y 0 1 1 0 输入A 输入B 输出Y 0 0 1 0 1 0 1 1 0 1 0 0 输入A 输入B 输出Y 0 0 0 0 1 1 1 1 0 1 0 1 74LS04 74LS02 74LS86 按照芯片各逻辑门的真值表与所得的真值表，得出： 74LS08是与门，逻辑表达式 Y=AB 74LS32是或门，逻辑表达式 Y=A+B 74LS04是非门，逻辑表达式 Y= 74LS00是与非门，逻辑表达式 Y= 74LS02是或非门，逻辑表达式 Y= 74LS86是异或门，逻辑表达式 Y= 本次试验主要是让我们对各种门电路进行一个直观的了解，实验相对简单，完成的较快，同时让我对各种基本芯片有了一个较全面的了解，对于各种芯片的基本连接方法和注意事项有了基本的了解，对数电实验产生了浓厚的兴趣。 成绩 教师签名 陈李胜 批改时间 年 月 日 A B Y ≥1 A B A 1 ≥1 =1