TEI-SHC1104XX-Card SHC1104XX卡片测试规范_迪 隆_20101231.pdf

第1 页 共4 页 1 目的 明确卡片封装厂家测试SHC1104XX 卡片的测试内容、测试条件及判别标准。 2 范围 适用于卡片封装厂家对华虹SHC1104XX 卡片进行功能、性能的测试检查。 3 职责 运营部测试工程师负责对规范的更新和落实，并确保其正确性。 4 名词定义 无。 5 流程图 无。 6 内容 6.1 测试条件 逻辑测试：在Type A 模式下，采用100%的调制进行功能测试。 测试场强： 1.5 A/m 测试距离：天线表面中心3cm 高度 测试前提：批量测试卡片前，必须确认测试设备稳定，所设置的测试条件无误后，方可进行卡片 的批量测试、检查。要求在测试设备上使用标识清楚的专用测试菜单进行测试。 TEI-SHC1104XX-Card A2 第2 页 共4 页 6.2 测试内容及方法 6.2.1卡片全功能测试 卡片全功能测试的具体步骤描述如下： （1） 询卡（request）：确认卡片返回固定的两字节（ATQA ：0004 ）。 （2） 抗冲突(anticoll)：确认卡片返回4 个字节（UID ）。 （3） 选卡(select)：确认卡片返回1 个字节 （CID ：08 ）。 （4） 认证（authentication）:初始密钥为6 个字节(全“FF”)。 （5） 写（write）操作检查： A)所有普通数据块写“AA55AA55AA55AA55AA55AA55AA55AA55”后并读（read）出校验正确？ B)所有普通数据块写“55AA55AA55AA55AA55AA55AA55AA55AA”后并读（read）出校验正确？ （6） 把BLOCK4（1扇区0 块）写入“55FFFF7FAFFF7F00FF00FF”并读出校验是否正确？。 （7） DECREMENT：对BLOCK4 进行一次加操作，所加数值为，并读出校验BLOCK4 内容 是否为“AAFFFF7AFFFF7F00FF00FF”？ （8） INEREMENT：对BLOCK4 进行一次减操作，所减数值为“55FF0000”，并读出校验BLOCK4 内容 是否为“0000FF7FFFFF7F00FF00FF”？ （9） 完成以上所有步骤后，把所有写过的BLOCK 普通数据块内容恢复为原始数据（全00）并读 出校验，判断是否写正确？ 6.3 EE 普通数据块图示如下 Sector Block 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 15 3 FF FF FF FF FF FF 权限位 FF FF FF FF FF FF 2 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 1 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 0 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00 TEI-SHC1104XX-Card A2 第3 页 共4 页 14 3 FF FF FF FF FF FF 权限位