射线检测方法.pptVIP

工件厚度b一定时，欲减小半影宽度Ug，主要因素是射源尺寸d和焦距f的大小。 焦距即射源至工件表面的距离。 射线源愈小、焦距愈大时，半影就愈小。 但焦距大则射线强度低，即曝光时间延长，既降低检测效率又增加散射线。 实际工作中，要综合考虑。 几何不清晰度允许值也可用图中曲线表示。 由于焦距不能过大，这就是在射线照相中为什么希望尽量采用小焦点X射线机的道理。 (3)射线能量的选择 射线能量决定于管电压，管电压愈高则射线能量愈大，探伤时穿透能力愈强。 射线能量不仅与被透照工件厚度有关，而且与透照灵敏度有关。 在能够透过工件的前提下，尽量采用较低管电压，以便提高底片灵敏度和射线照相质量。 缺陷部位与无缺陷部位的黑度差取决于胶片上射线强度差，强度差取决于衰减系数，衰减系数愈大则射线强度差愈大。 衰减系数与射线波长是三次方正比关系，射线能量愈大，衰减系数愈小。 在能穿透工件的情况下，尽量采用较低的管电压，减少射线能量。 此时被透照工件对射线的吸收能力增强，这就使有缺陷部位和无缺陷部位的黑白对比度增大，从而提高了底片灵敏度。 此外，管电压愈高，它使底片产生的固有不清晰度愈大，有时称为胶片不清晰度，它与射线的能量有关。表为固有不清晰度的实验值。 为防止管电压过高使底片质量下降，在射