《ERP实验教程》补充.pdfVIP

《ERP 实验教程》 重要补遗 赵 仑 1 前 言 自拙作《ERP 实验教程》于2004 年9 月出版以来，已近一年。在这近一年 的时间里，承蒙各院校或研究所的专家和同行的厚爱，对该书给予了较高的关注 和评价。但由于成书时间较短，难免有一些未完全说明之处。现将较为重要的、 容易忽略的几个问题做进一步的解释和说明，以《补遗》方式呈现给大家，作为 《ERP 实验教程》的补充。 赵 仑 2005 年5 月28 日 于 北京 2 §1 EEG 离线分析需要线性校正（Linear Detrend）吗？ 《ERP 实验教程》第四章第一节 “离线分析的基本过程”对从EEG 原始数 据得到ERP 结果的基本过程进行了说明，而 《认知事件相关脑电位教程》（魏景 汉、罗跃嘉主编，2002 ）书中对EEG 离线分析的步骤也进行了描述，如下： 《认知事件相关脑电位教程》 《ERP 实验教程》 1、 合并任务数据 1、 合并行为数据和脑电预览 2 、 去除眼电伪迹 2 、 去除眼电、心电、肌电伪迹 3、 对脑电分段 3、 数字滤波 4 、 滤波 4 、 脑电分段 5、 基线校正 5、 基线校正 6、 排除伪迹 6、 线性校正 7、 删除坏电极通道 7、 基线校正 8、 平均 8、 去除伪迹 9、 总平均 9、 叠加平均/总平均 总体而言，两本书中的步骤基本上是一致的，主要区别在于《ERP 实验教 程》增加了线性校正（Linear Detrend ）。那么，是否一定需要进行线性校正（Linear Detrend ）呢？很多读者对此感到疑惑，在此，对该步骤作进一步的补充说明， 希望读者能够深刻体会： 线性校正（Linear Detrend ）主要用来消除线性漂移带来的伪迹，可以剔除 超出epoch 范围内的电位偏移。当所用的AC 放大器的时间常数较大 （或DC 放 大器）时，记录的脑电数据通常会混有这种伪迹，而突然的刺激波动也会产生一 个缓慢恢复的慢波，另外，HEOG 会引起前-颞区的记录部位出现慢电位的漂移。 为了消除上述伪迹，线性校正先计算现有波形的“line of best fit ”，然后再将其 剔除。 我们在进行线性校正时，一个非常重要的问题即是，要判断出现的慢电位 偏移是否是伪迹，只有在确定其为伪迹时，才能进行该步骤。那么，怎样判断慢 电位的偏移是否是伪迹呢？这需要研究者具有一定的伪迹判别能力以及ERP 研 3 究的经验。 例 1 图 1 是实验中视觉刺激产生的诱发电位。视觉刺激为不同排列组合 的小圆圈，刺激呈现时间50ms，2 次/秒。采样率1000Hz ，带宽0.05～40Hz 。要 求被试只注意看，不进行任何作业任务，即进行视觉诱发电位的记录。该实验数 据如果不进行Linear Detrend ，叠加平均得到的VEP 如图1 （左）。很明显，CP3、 CP4、Pz 电极记录的VEP 产生了很明显的正电位偏移。考虑