9 JY T 009-1996 转靶多晶体X射线衍射方法通则.pdf

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9 JY T 009-1996 转靶多晶体X射线衍射方法通则

MV_RR_CNJ_0009 转靶多晶体 X 射线衍射方法通则 1. 转靶多晶体 X 射线衍射方法通则的说明 编号 JY/T 009—1996 名称 (中文) 转靶多晶体X射线衍射方法通则 (英文) General rules for X-ray polycrystalline diffractometry 归口单位 国家教育委员会 起草单位 国家教育委员会 主要起草人 马礼敦 黄清珠 批准日期 1997 年 1 月 22 日 实施日期 1997 年 4 月 1 日 替代规程号 无 适用范围 本标准规定了用多晶体X射线衍射仪在室温、高、低温条件下对各 种多晶材料进行物相组成的定性分析、物相组成的定量分析、晶粒的 大小(范围约为1nm~200nm)及晶粒内点阵畸变的测定。属立方晶系晶 体的点阵常数的测定的一般方法。 本标准适用于各种多晶体材料,如金属与合金、矿物与土壤、陶 瓷与建筑材料、有机与无机化合物、药物与聚合物及环保试样等。主 要适用于衍射仪法,但可参照使用于照相法。 主要技术要求 1.定义 2.方法原理 3.试剂和材料 4.仪器 5.样品 6.分析步骤 7.分析结果的表述 是否分级 无 检定周期(年) 附录数目 7 出版单位 科学技术文献出版社 检定用标准物质 相关技术文件 备注 2. 转靶多晶体 X 射线衍射方法通则的摘要 本标准规定了用多晶体X射线衍射仪在室温、高、低温条件下对各种多晶材料进行物相 组成的定性分析、物相组成的定量分析、晶粒的大小(范围约为1nm~200nm)及晶粒内点阵 畸变的测定。属立方晶系晶体的点阵常数的测定的一般方法。 本标准适用于各种多晶体材料,如金属与合金、矿物与土壤、陶瓷与建筑材料、有机与 无机化合物、药物与聚合物及环保试样等。主要适用于衍射仪法,但可参照使用于照相法。 3 定义 本标准采用下列定义。 3.1 X射线 X-ray 通常将波长为10-3nm~10nm的电磁波叫作X射线。用于晶体衍射的X射线波长一般从 0.05nm到0.25nm 。 3.2 晶体 crystal 由结构单元(原子,分子,离子或它们的集团)在三维空间呈周期性重复排列而成的固态 物质。 3.3 多晶体 polycrystal 由许多小晶粒聚集而成的物体称多晶体或多晶材料。它可以是单相的,也可以是多相的。 3.4 (空间)点阵 lattice 在结晶学中,点阵是用来表达晶体中原子团排列的周期性的工具,是三维空 间中,周期重复排列的点的集合。 3.5 晶胞 unit cell 晶体中用来反映晶体的周期性、对称性及结构单元的基本构造单元。其形状 为一平行六面体。 3.6 晶胞参数;点阵常数 unit parameters ;lattice constant 平行六面体形的晶胞可用其三个边的长度a,b ,c及它们间的夹角α(b,c边之夹角) ,β (a,c边之夹角) ,γ(a,b边之夹角)这六个数来表达,这六个数就叫点阵常数或晶胞参数。 3.7 点阵畸变 lattice distortion 存在于点阵内部的不均匀应变。 3.8 晶系 crystal system 晶体中可能存在的点阵,按其本身的对称性,也即其晶胞的对称性可分为七种,称为七 个晶系。晶胞参数可反映晶胞的对称性,如晶胞参数为a =b =c

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