DFT(可测性设计、制造测试).pdfVIP

DFT Introduce 2016/7/29 Page 1 (Title, Arial, 30 pts) DFT Summary Scan Chain BIST Boundary Scan/NtreeBoundary Scan/Ntree Page 2 DFT: design for test(可测性设计) 测试分功能测试和制造测试 功能测试主要寻找设计上可能存在的错误，用来验证电路中的逻辑行为 制造测试制造测试用于寻找在制造过程中可能存在的制造缺陷用于寻找在制造过程中可能存在的制造缺陷 （（开路开路、、短路等短路等 ）） DFT是为了使制造测试尽可能简单，覆盖率尽可能高，而在电路中加入一 些特殊逻 的设计方法 Page 3 DFT分类: Scan: 扫描 电路主要测试寄存器和组合逻辑。工具生成 BIST: 内建自测试，电路自己生成测试向量对自己进行测试，主 要