嵌入式系统的设计方法实践课件.ppt

6 设计素材 分立元件 模拟器件 数字器件 转换芯片 电源器件 其它元件 软件模块 6.7 软件模块 1）中间件 2）已被验证的程序段 3）图形界面 4）操作系统 7 小结 设计方法小结 1 设计准则 2 设计步骤 3 开发平台 测试技术 5 主要性能 6 设计素材 3.2 仿真器功能 3.3 仿真工具 1）功能：仿真器与计算机、配套的软件集成开发环境(IDE)一起协调工作，相当于一个运行状态可以人为控制的单片机，实现断点设置、变量观察修改；应用程序的编辑、编译、连接、下载等功能 2）仿真器技术： Bondout 、HOOKS 、JTAG技术 3）JTAG的优点：结构简单、成本低、通用性好； 4）JTAG的实现：芯片中嵌入JTAG调试模块，配合 JTAG仿真器和IDE来实现仿真调试； 5）JTAG仿真器种类：并口下载头、并口仿真器、 USB 接口的仿真器等。 开发平台（2） 3.3.1 组建ARM JTAG开发平台 3.3 LPC2200 JTAG开发平台组建 1） 在计算机上安装ADS1.2：在计算机上安装ARM公司开发的集成调试环境ADS1.2； 2）设置LPC2200的工程模板：启动ADS1.2，参照《ARM嵌入式系统实验教程一》P.41上的“2.4.1为ADS1.2增加LPC2200专用过程模板”内容； 3）安装EasyJTAG-H仿真器的驱动程序：具体安装步骤参见光盘中文件“EasyJTAG-H仿真器的安装与应用.pdf”的提示，驱动程序在光盘“ARM嵌入式系统实验教程（一）\第2章\H-JTAG”。 开发平台（3） 3.3.2 组建ARM JTAG开发平台 3.3 LPC2200 JTAG开发平台组建 4）EasyJTAG-H一端接计算机并口，另一端接EasyARM2200开发评估板，给发评估板加上稳压电源； 5）启动ADS1.2，调入光盘上“ARM嵌入式系统实验教程一”目录下的某个实验代码的工程文件，进行调试； 6）提示：由于H-JTAG驱动程序的缺陷，目录名称用全英文，目录级数不要太长。 开发平台（3） 第二讲 嵌入式系统的设计方法 1 设计准则 2 设计步骤 3 开发平台 4 测试技术 5 主要性能 6 设计素材 4.1 测试原因 4.1 测试原因 1）纠正软件错误 寻找软件中的错误，实现预定的功能； 2）减少风险 有缺陷的产品流入市场，当缺陷暴露的时候， 修复的代价会非常高； 3）提高性能 找到并清除无效代码，帮助确认软件是否已经 完全挖掘出硬件潜力，从而优化应用软件。 测试技术（1） 4.2 测试内容 4.2 测试内容 1）功能测试 是否到达设计任务书中的规定内容。 2）覆盖测试 测试软件中的每一个子程序或功能模块，发现 并纠正错误。 3）可靠性测试 在各种可能出现的干扰环境下(模拟环境或现 场环境)，如电磁干扰、电源波动等，考察样 机能否正常运行。 测试技术（2） 4.3 测试方法 4.3 测试方法 1）开发过程中的测试 简单、效果好，设计者采用； 2）黑盒测试 不考虑内部细节，在输入端加激励，分析输出 端响应，用于功能测试，用户或设计者采用。 3）灰盒测试 需要知道与测试相关的部分程序，有时需要插 入供测试用的指令，测试完毕后清除。用于覆 盖测试或功能测试，一般设计者采用。 测试技术（3） 第二讲 嵌入式系统的设计方法 1 设计准则 2 设计步骤 3 开发平台 4 测试技术 5 主要性能 6 设计素材 5.1 精度 5.1 精度指标 1）在实现指定功能后，对于计量设备，就有精 度的要求； 2）精度用相对百分比误差来表示，并规定若干 个精度等级，如 0.5, 1.0 等； 3）模拟仪表的高精度通过深度负反馈来实现； 4）数字式仪表的高精度通常采用高精度元器件 和软件参比补偿的办法来实现。 主要性能（1） 5.2.1 可靠性定义 5.2.1 可靠性的定义 1）嵌入式系统在规定的环境条件下(气候、机械及 电磁环境等)和规定时间内完成规定功能的能力 在不同的场合可用不同的指标表示： 2）平均故障间隔时间(MTBF) 硬件MTBF由厂家或设计者提供，可以计算； 软件MTBF用FITS(一亿小时中发生故障的总数) 3）平均修复时间(MTTR) 4）有效性：MTBF/(MTBF+MTTR) 5）故障时间：每年的故障时间是一个理解