01 MLA矿物解离解析仪简介.pdf

矿物解离分析仪 将矿物解离转化为利润 MLA 结合了大型样品室自动化扫描电子显微镜、多个能 增值的步骤有以下三步：测量、解析和优化 量色散 X 射线探测器以及技术领先的自动化定量矿物学 软件。该软件由澳大利亚的矿物技术专业公司 JKTech 设 采用 MLA，可对矿石颗粒的横截面进行分析，从而能够 计，能够控制扫描电子显微镜硬件对矿物和材料样品进行 更好地了解、优化和预测矿物加工选厂的性能。 定量分析。MLA 自动化系统每晚可测量 16 个标准样品， 无需操作人员协助。自动化样品台控制以及图像采集功能 测量针对性强，处理量高 可允许对精矿进行至少 5,000 个颗粒的 BSE 成像和后续 MLA 可测量有色金属和贵金属、工业矿藏、煤炭和其 X 射线分析，尾矿或其他低品位矿石可达 50,000 颗粒或 他材料。测量可根据需要，将测量时间和数据过度采集 更高。自动重新校验功能可确保结果一致。所有图像处理 降低，从而提高样品处理量。与专业化测量软件结合的 阶段都由系统所包含的专门软件中功能强大的算法进行控 专门测量方案，测量范围广泛，可根据您的需要加以选 制。MLA 的扫描电子显微镜分析平台由 FEI 开发、生产 用。高分辨率的 BSE 成像系统可以分析小至 2 µm 的粒 并提供技术支持，该公司是带电粒子检验和评定工具的领 子和 0.2 µm 的矿物成分。 先供应商，在全球 40 多个国家拥有代表机构。作为 MLA 的合作伙伴，JKTech 和 FEI 为用户提供了最好的定量矿物 分析结果的解释 学工具、设备销售、全球支持和设计。 由 MLA 的 DataView 软件生成的灵活的列表和图形报告 结果包括： MLA 提供一系列定量矿物学测试的特制分析模式，以确 • 矿物丰度（模态分析）和样品元素分布（化验） 保您不仅可以进行数据搜集，而且可以获得宝贵的应用矿 • 粒子和颗粒尺度分布 物学信息。这些分析模式采用独特的高分辨率 BSE 成像分 • 矿物组合、解离和嵌步关系 析和先进的 X 射线矿物识别技术来满足您的分析要求。 • 理论品位-回收率线 无论是分析成分复杂的有色金属矿或是寻找超细级贵金属 • 粒子密度和形状系数 颗粒，MLA 都能为您的特殊用途提供测量方案。MLA 功 这些数值可用来评估选矿厂的各条流线的解离特性或评定 能强大的 DataView 软件可以让您按所需要的方式给出分 矿石的可选性。 析结果：如以列表或图形格式、单独或结合使用、或输出 到其他软件。 工艺优化 MLA 可进行未来选矿厂的矿石分析以及实验室批量或中 MLA 与 JKTech 内容广泛的其他咨询服务完全融为一 试产品的分离试验分析。浮选试验的效率可用 MLA 分析 体。MLA 用户可以享受到应用支持的益处，例如 JKTech 结果进行评估，如理论品位-回收率曲线。贵金属解离分 的磨矿，选矿和矿石评定技术或内容广泛的模拟技术 布之类的信息对确定分离不足是否是由于连生粒子的存在 （如 JKSimMet 和 JKSimFloat ）。MLA 技术的不断发展 或是因机械、试剂或分离器性能不佳造成起着十分重要的 还得到由工业界投资、正由世界知名的 JKMRC 负责进行 作用。地质冶金和矿石评定信息，如矿物组合数据和颗粒 的研究成果作为后盾。 尺度分布等，可以通过避免使用性能不佳的矿石或进行有 效的矿物混合来帮助优化选矿厂的送料质量。