SPIno.23MFM测量坡莫合金薄膜的磁区.PDF

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2017-05-28 发布于天津
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SPIno.23MFM测量坡莫合金薄膜的磁区

上海浦东新区张江高科技园区碧波路690 号2 号楼102 室（201-203） TEL: (86)-21-5027-3533 FAX: (86)-21-5027-3733 SPI no.23 MFM测量坡莫合金薄膜的磁区 1998.8 MFM作为 SPM （扫描型探针显微镜）之一是对样品表面的磁场泄漏分布图像化。与先前的磁区观察法相比， MFM在大气中能够同时进行超高分辨率的磁区、塑料的表面形貌测量。左下方的图像是在硅基片上膜厚约为 40 nm的坡莫合金薄膜的形貌图像，右下方的图像是同时测量得到的 MFM图像，由于探针磁化引起的混乱非常少，可以观察到清晰的回流磁区。表面形貌图像（２２μｍ□） MFM 图像（２２μｍ□）