MOCVD生长AlGaN薄膜的X光电子能谱-光子学报.PDF

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MOCVD生长AlGaN薄膜的X光电子能谱-光子学报

32 8 Vol.32 No.8 2003 8 ACTA PHOTONICA SINICA August 2003 MOCVD Al aN X 1,2 1 3 3 苑进社 陈光德 林景瑜 汪红星 ( 1 , 710049) (2 , 710048) (3 , 66502-2601) 用X 光电子能谱和X 射线衍射谱方法分析了MOCVD 生 的Al aN 薄膜的实际表面形态 和晶体结构基于XPS 测量结果,通过分析计算, 发现实际表面除 aN 外存在 a2O3 和Al2O3 及其 它与O有关的络合物构成的混合氧化物覆盖层, 估计覆盖层厚度约1.2 nmXRD 结果显示生 的 Al aN 薄膜为以 aN(0002) 取向为主的多晶结构 MOCVD; Al aN 薄膜;X 光电子能谱;X 射线衍射谱 O72 A (NH ) (Al O ) , 1050 , 0 3 2 3 4 4 10 PaAl a N, 0. 1 0.9 , 1 m ( Van der ( aN) 3.4 eV, Pauw) n Al aN , (AlN) 6.2 eVAl aN Al 17 3 2 5. 6 10 / cm , 221 cm /vsX 3.4~ 6. 2 eV , (XPS) V 200~ 365 nm, ESCALAB MKII , MgK [1] ( 1253.6eV)X ,250 W, , aN - 8 50 eV, 5 10 Pa , aN , 0. 1%, LED , 10000 h RI AKU X LD; (UV detector) (XRD) , 82%, 2 - 15 1/ 2 (NEP) 6. 6 10 W/Hz (f 100 Hz) ; 1XRD , 34. 58, Al a N/ aN ms x x - 1 0.21;32.8032.32, [2,3] ns , 0.21;68.0273.08 , aN

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