10-11多晶体分析方法.ppt

岛津XRD-7000S 半导体阵列探测器 100多个微型探测器同时工作 直接探测衍射线，直接计数， 有效处理高计数率 缩短数据收集时间， 保持同等分辨率 完全免维护 超能阵列探测器 X’Celerator 计数测量中的电路 计数器的主要功能： 将X射线光子的能量转换成电脉冲信号，然后将电脉冲信 号转变成为操作者能直接读取或记录的数值。 脉冲高度分析器的原理: 利用计数器产生的脉冲高度与X射线光子能量成正比的原 理来辨别脉冲高度，利用电子学电路方法剔除那些对衍射分 析不需要的干扰脉冲，由此可达到降低背底和提高峰背比的 作用。 Instrumentation Sample stages: For circular samples From PW1800 多功能样品台 旋转样品台 多样品平台（15～45个） 特种X射线衍射装置 1）高温X射线粉末衍射装置 2）低温X射线粉末衍射装置 3）高压X射线粉末衍射装置 4-4 衍射仪的测量方法和实验参数 一、测量方法：连续测量方法和阶梯测量方法 连续扫描测得的Ni-Cr基合金的粉晶衍射花样 将计数器转到一定的2θ角位置固定不动，通过定标器，采取定时计数 法或定数计时法，测出计数率的数值 阶梯扫描用于精确测定宽散衍射峰形（如测晶粒大小、非晶态结构的径 向分布函数和小角散射）；精确测定晶面间距和强度（点阵畸变和定量 相分析）等。 阶梯扫描模式 小角X-射线散射测定物质结构 定义：一般指散射角为零至几度内的散射现象为小角X-射线 散射（SAXS）。 测定两种情况的样品: a)某些物质内部含有长周期结构，像高聚合物或蛋白质，其晶面间距可达几十或上百原子间距离，根据布喇格定律散射角在小角范围。 b)如果试样内部存在纳米尺寸的密度不均匀区（2～100nm）时，则会在入射X-射线周围的2-5度以内出现散射X-射线 特殊的X射线扫描方式 固体脂质材料的小角度X射线衍射图 反映了有机物－粘土复合材料的长周期结构 小角度X射线衍射 薄膜衍射分析示例 薄膜衍射分析示例 普通X射线衍射模式 薄膜X射线衍射模式 普通X射线衍射模式 薄膜X射线衍射模式 薄膜衍射分析示例 实验参数选择 影响实验精度和准确度的一个重要问题是合理地选择实验参数。 1) 狭缝光阑的选择 一般而言，增加狭缝宽度可导致衍射线的强度增高，但同时却使分辨率下降。 通常可以选择发散狭缝和防散射狭缝相同大小，而接收狭缝的大小可根据强度及分辨率地要求而选择，相分析时常采用0.2或0.4 mm。 防散射狭缝的影响 索拉光阑（soller slits）的影响 接受狭缝的影响 时间常数选择 时间常数：对X射线衍射强度记录时间间隔的长短。 增加时间常数可使衍射线及背底变得平滑，但同时降低强度和分辨率，并使衍射峰向扫描方向偏移，造成衍射线的不对称宽化。 降低时间常数将会使背底的波动加剧。 相分析中时间常数约为1～4 s. 时间常数对石英(11-2)衍射峰形状的影响 时间常数选择 扫描速度的选择 扫描速度对石英(100) 衍射峰形状的影响 扫描速度一般以度/ 分表示。增大扫描速度可以节约测试时间，但同时将导致强度和分辨率下降。 实验参数选择的总结 通常，当各参数变动时，所导致的得失往往是互相制约的，综合分析可以得出这样的结论： 为了提高分辨本领必须选用低速扫描和较小的接受狭缝光阑。 要想使强度测量有最大的精确度，就应当选用低速扫描和中等接受狭缝光阑。 第四章 多晶体分析方法 4-1 引言 粉末法是所有衍射法中应用最广的一种方法。它是以单色X射线照射粉末试样(真正的粉末或多晶试样)。 粉末法主要可以分为： 德拜－谢乐(Debye-Scherrer)照相法 特点：圆棒状试样，用乳胶片记录衍射数据， 现在已不常用 粉末衍射仪法 特点：用电子探测器记录衍射数据 （此外还有聚焦法、针孔法等粉末衍射法） 4-2 粉末衍射图象的形成原理 如果以入射线为轴，使晶粒转动，则衍射线也将绕入射线转动，形成一个衍射圆锥面，其顶角等于4θ。 德拜法 德国科学家德拜与谢乐1916年发明德拜相机，首创X射线粉末 照相法，把物质晶体结构测量实用化。德拜法设备简单，测量 精度高，全世界几万种物质的标准物相大都由德拜法测出。 每一组具有一定晶面间距的晶面，都将分别地形成各自的衍射锥。如果通过圆柱形底片截取这些衍射锥，将得到一系列衍射弧对，每个弧对都可以用相应的干涉指数HKL标记。 德拜法示意图 德拜法成像示意图 德拜法 德拜法样品制备原则是： 均匀，无宏观织构、无内应力，使衍射线均匀而连续，以