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实验三 移位运算和存储器实验
实验三 移位运算和存储器实验
实验三 移位运算和存储器实验
一.实验目的
1.验证移位控制的组合功能。
2.掌握静态随机存储器RAM工作特性及数据的读写方法。
二.实验设备
TDN-CM计算机组成原理教学实验系统一台,排线若干。
三.实验内容
移位运算实验
1.实验原理
3-1
移位运算实验原理如图 所示。
8
· ·
计算机组成原理实验指导书
图3-1 移位运算实验原理图
实验中使用一片74LS299芯片作为移位发生器,其8个输入/输出端以排针方式
299-B T4
和总线单元连接。“ ”信号控制该芯片的使能端, 时序为其时钟脉冲,实验
JTUNIT T4 STATE UNIT KK2 S0 S1
时将“ ”中的 接至“ ”中的 单脉冲发生器,由 、 、
M控制信号控制其功能状态,其功能状态如表3-1:
表3-1 移位发生器功能状态表
299-B S1 S0 M 功能
0 0 0 任意 保持
0 1 0 0 循环右移
0 1 0 1 带进位循环右移
0 0 1 0 循环左移
0 0 1 1 带进位循环左移
任意 1 1 任意 装入数据
2.实验步骤
(1)按图3-2连接实验线路,仔细查线路无误后,接通电源。
9
· ·
实验三 移位运算和存储器实验
图3-2 实验接线图
(2)移位操作。
①置数,具体操作步骤图示如下。
3-1 S1 S0 M 299-B KK2
②移位,参照表 改变 、 、 、 的状态,按动微动开关 ,
观察移位结果。
(3)分别输入10组以上不同实验数据,重作步骤(2)。自行设计表格,将移位运算
数据及结果记录在表中。
存储器实验
1.实验原理
4-1
实验所用的半导体静态存储器电路原理如图 所示,实验中的静态存储器由一
10
· ·
计算机组成原理实验指导书
6116(2K 8) (74LS273)
片 × 构成,其数据线接至数据总线,地址线由地址锁存器 给出。
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