第三章真空技术基础与等离子体课件.ppt

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第三章真空技术基础与等离子体课件

《表面工程理论与技术》讲义-张国君 第3章 真空技术基础与等离子体 第3章(1) 真空技术基础 Elements of vacuum technology 真空的定义 真空:密闭容器内低于一个大气压的空间(1.01×105Pa) 绝对真空永远无法达到 气体状态方程: P = n k T 体积分子数:n=7.2×1022P / T 20?C时,若 P=1.33 × 10-4 Pa 则n=3.2 ×1010 个/cm3 真空的表示:真空度——气体的压强 (Pa) 平均自由程:气体分子之间相邻两次碰撞的平均距离 真空在气相沉积中的作用: 防止氧化、污染;减少蒸发原子与残余气体分子的碰撞,抑制它们之间的反应;绝热保温 碰撞分子百分数: 真空的获得 产生真空的过程——抽气;工具——真空泵 单位时间抽出的气体体积——抽气速率 真空泵工作足够时间后所达到的最低气压 ——极限真空 不同类型的真空泵有特定的工作范围,通常需要两级联合才能达到高真空以上。从大气开始的叫“前级泵”,从低气压开始工作的叫“次级泵”。 旋片式机械真空泵(机械泵) 旋片式机械真空泵(机械泵) 油扩散泵(扩散泵) 涡轮分子泵(分子泵) 低温吸附泵(低温泵) 几种常用真空泵的工作气压范围 真空的测量 测量真空的工具——真空计和真空规管 直接法:绝对真空计,准确但不适合高真空 间接法:相绝对真空计,测量与压强有关的物理量,与绝对真空计比较后获得。准确度略差,和所测气体种类有关 热偶真空计 电离真空计 真空室内清洗 加热 脱吸附 离子轰击 溅射 离子渗 离子注入 非平衡过程,高固溶度 低热过程 无变形,不改变精度 无界面 能量和剂量可控性好 高真空,无污染 对材料无限制 蒸发镀膜(蒸镀) 溅射沉积 离子镀 弧镀的局限性 金属颗粒的减少和离化率、容积矛盾。 需要用合金靶,不同元素有不同溅射率,不同部位溅射材料量不同。 溅射清洗和薄膜沉积过程难以控制。 离子束增强沉积(IBED) 化学气相沉积(CVD) 平衡和非平衡磁控溅射的比较 非平衡技术提高轰击工件的离子电流 Mag 4 Ti Mag 1 Mag 2 Ti Mag 3 Ti target N polar S polar 1 fold 3 fold 柱状晶 致密等轴晶 离子镀:镀膜的同时用载能离子轰击基体和镀层表面的技术 在蒸发或溅射沉积基础上而不是独立的沉积方式 阴极电弧等离子体沉积 靶材料在真空电弧作用下蒸发。 电弧点仅数微米,时间仅几纳秒,温度极高,材料几乎百分之百离化。 离子垂直向外发射,微颗粒以一定角度射出。 一些离子被阴极吸引,打回到阴极,使电弧持续进行。 电弧电压为15-50V,电流可达到数百。 金属表面产生电弧时,金属在电弧的高温中气化,喷出金属蒸汽。此蒸汽中金属分子在等离子体中离化成金属离子。同时还产生一定量不同大小的液滴。 液滴形态及不同的粒子角分布 离子垂直向外发射, 微颗粒以一定角度射出 用屏蔽法减少颗粒 百叶窗式遮板 工件前简单挡板 在输出通道中进行 重力和磁过滤 S型和弯曲型过滤器 离子轰击过程对IBED 膜基结合强度的影响 离子轰击能量对界面宽度的影响 优点: (1) 沉积与离子轰击相对独立,便于控制镀层成分及组织; (2) 沉积温度低,可避免温度对材料及尺寸的影响。 (3) 膜基间为连续界面,对所有基材均有较好的结合强度。 (4) 可与高真空相容,污染少,有利于提高镀层质量; 不足: (1)离子束直射性; (2)离子源尺寸限制,生产效率很低; (3) 镀膜速度慢,成本较高。 注入剂量低时,浓度分布满足高斯分布 注入剂量高时,峰值向表面移动 能量损失 金属原子 Ar离子 电子 Ar离子轰击负电 位的金属表面 影响溅射率S的主要因素 入射离子种类:大质量、稀有气体S高 入射离子能量:阈值、注入 入射离子角度:40-50o 靶材种类:周期变化,d层充满,溅射率大 工作气压:气压低,S不变,气压高,S随之减小 表面温度:一定温度内不变,温度过高,急剧增大 氩离子对不同元素的溅射产额 磁控溅射 等离子体 磁道 靶 冷却水 磁体 磁控溅射靶 等离子体温度和气压的关系 等离子体类型与P/E的依赖关系 p—气压 E—电场强度 各种等离子体的电子密度、电子温度和气体温度 非平衡等离子体与平衡等离子体的比较 弧光放电 辉光放电 典型放电形式 较高 较低 气相沉积温度 0.1MPa 13300Pa 放电气体压力 1014/cm-3 约1012cm-3 等离子体密度 Te?Ti ?Tg104 K 整体温度高 Te(约104K)Ti(约103 K)Tg(约103 K) 整体温度低 粒子温度 平衡等离子体

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