电法勘探深度的新方法双二级垂直极化法.doc

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电法勘探深度的新方法双二级垂直极化法

电法勘探深度的新方法——双二级垂直极化法 樊伟宏 陈宇同 在电法勘探的方法理论研究和实际应用中,人们越来越感兴趣的问题是,如何提高勘探深度,压制浅部干扰,最大限度地获取深部的地质矿产信息,以准确寻找隐伏矿床。多年来,国内外许多研究者从不同的侧面提出了不同的方法和理论,这些方法从原理上说可以分为两类,一类是增加供电电流、加大供电极距,实践证明,这在实际工作中有诸多困难;另一类是降低干扰水平,相对大幅度提高异常强度,如纯异常法等,但这类方法观测困难,观测精度难以保证。在分析和研究上述方法原理的基础上,本文提出了双二极垂直极化法,它能够增强深部的电流密度、有效提高深部信号强度、达到提高勘探深度的目的。 方法的原理和装置特点 众所周知,在常规电法装置的条件下,地表电流密度最大,且电流主要集中在供电极连线附近不太深的范围内。一般来说,在其它条件(如供电电流强度)不变时,深部电流密度随着供电极距增大而增大,深部地质体的信号得到加强,这意味着勘探深度也相应地得到加大。这种深部地质体的电信号与深部电流密度同消长的规律给我们一个启示,是否可以通过调整勘探装置,改变某些技术条件,使地下电流密度的性质和分布状态得到改变,从而使某一深度及其以下深度的电流密度得到加强,以增加来自深部的异常信息。 我们知道,电流密度是具有大小和方向的矢量,且同性电流具有相互排斥的作用。当把多个同性电极以某种形式组合排列进行供电时,由于电流密度的矢量性,随着深度h的变化,其矢量和将会增大或减小。当改变同性电极的组合排列方式时,电流密度矢量和增大或减小的规律也会变化,这样就达到了我们预期的目的,任意改变某一深度的电流分布和值的大小、压制或增大不同深度的异常。根据这一原理,我们采用如图1的装置形式,A1、A2、A1′、A2′,为对称的同性正电极,其异性电极为无穷远,观测M点的电位。 由图1可知,当I1=I′1、I2=I′2时,M点下方(均匀半无限空间)任意深度的电流密度矢量是垂直向下的,jh=jh1+jh2,因而具有较强的穿透水平低阻覆盖层的能力。 设A1M=A1′M=L,A2=A2′M=I,且l/L=m; I1+I′1=I, I2+I′2=I, 且i/I=n 四个点点电源在M点产生的电位为 Um=Ps/2π(I1/A1M+ I1/A1M+ I2/A2M+ I2/A2M) =Ps/2π(I/L+i/l) =PsI/2πL(i+n/m) 同样,M点下方h深处的电流密度为〕} Jh=h/2π〔I/(L2+h2)3/2+ I/(l2+h2)3/2+〕 =Ih/2πL3{l/〔l+(h/L)2〕3/2+n/m2+(n/〔m2+(h/l)2〕3/2} =I/2πL 2·h/L{l/〔l+(h/L)2〕3/2+n/〔m2+(h/l)2〕3/2} 当装置和供电条件固定后,I/2πL2为一个常数,令其为K,则 Jh=K·h/L{l/〔l+(h/L)2〕3/2+n/〔m2+(h/l)2〕3/2} 由此可见,M点下方h深处的电流密度大小不仅与h/L有关,而且还与装置参数m、n(由供电装置和供电条件确定)有关,取定不同的m、n值,可以获得一系列的电流密度参数Jh/K随深度参数h/L变化的曲线簇。(由于篇幅所限,仅选m=0.5和n=0.5两支曲线簇,见图2和图3)仔细观察这些曲线簇,可以进行如下分析: 当h=0或h<<l时,电流密度为零,地表不均匀体不产生异常,电流主要集中在某一深度以下,M点观测到的电位异常值完全由地址体引起。因此,适当增大l值,就能压制h0深处及其上方的不均匀体产生的干扰。 随着深度h的增加,电流密度曲线迅速上升,上升的速度与m、n值有关,且电流密度在某一深度H0处取得一个极大值,H0为最佳勘探深度。即位于H0处的地质体的电信号最大。 H0的取值与m、n选择有关。H0与m成正比、与n成反比。因此,根据勘探目的,通过选择不同的m、n值,就能使所需要的某一深度为最佳勘探深度H0,使H0极其附近的地质信号得到加强。 4、最佳勘探深度H0处的电流密度极大值JH也与m、n有关。JH与n成正比、与m成反比。有由曲线簇可以看出,m与n取某些组合时,JH/K>l,即JH>K。而K= I/2πL 2为常规四极装置AMNB供电为I,AB/2=L时观测点处的电流密度,也是常规四极装置的最大电流密度大于地表电流密度。这对于提取深部地质信息、减小发送功率无疑具有实际意义。 表1 双二极垂直极化法装置参数与最佳勘探深度关系表 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 0.1 3.920 0.072 1.106 0.160

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