电子测量原理 数字系统测试技术.pptVIP

误码分析和数据记录 误码仪除检测出误码，并计算出误码率外，还应对测量数据进行分析，如根据不同误码率占总测量时间的百分比，确定被测系统的工作状况。 为了进行测试结果的分析，误码检测仪必须记录大量的测量数据和误码事件，误码性能的测量可能需要运行几个小时或者几天，以积累有意义的统计结果。测试仪在绝大数时间是无人看管而自动工作的。所以数据记录常采用非易失性存储器存储。 11.4.2 嵌入式系统测试 嵌入式微处理器的可测性总体设计 主要包括CPU核、数据及指令缓存启动ROM、DMA控制器、I/O控制器、存储控制器等部件。 CPU核：主要是一个4级的流水线结构，每两站之间有站寄存器，用来存储从上一站传到下一站的数据，采用BILBO（内部逻辑快观察）测试。 存储器：指令和数据缓存分别用4K的RAM实现，另外还有512Byte的启动ROM，都是普通的存储器结构，因此采用通用的BIST测试方法。 DMA控制器、内部总线、I/O控制器、存储控制器和CPU核中不包括在流水线内的逻辑是普通的逻辑电路，采用部分扫描测试方法。 嵌入式微处理器符合边界扫描测试标准IEEE1149.1，芯片的每一个I/O口都附加有一个扫描单元TAP控制器成为整个芯片的测试控制中心。 * * 11.3 可测性设计 11.3.4 边界扫描测试技术 ? 1 原理 2 边界扫描