电子测量原理 数字系统测试技术.ppt

误码分析和数据记录 误码仪除检测出误码，并计算出误码率外，还应对测量数据进行分析，如根据不同误码率占总测量时间的百分比，确定被测系统的工作状况。 为了进行测试结果的分析，误码检测仪必须记录大量的测量数据和误码事件，误码性能的测量可能需要运行几个小时或者几天，以积累有意义的统计结果。测试仪在绝大数时间是无人看管而自动工作的。所以数据记录常采用非易失性存储器存储。 11.4.2 嵌入式系统测试 嵌入式微处理器的可测性总体设计 主要包括CPU核、数据及指令缓存启动ROM、DMA控制器、I/O控制器、存储控制器等部件。 CPU核：主要是一个4级的流水线结构，每两站之间有站寄存器，用来存储从上一站传到下一站的数据，采用BILBO（内部逻辑快观察）测试。 存储器：指令和数据缓存分别用4K的RAM实现，另外还有512Byte的启动ROM，都是普通的存储器结构，因此采用通用的BIST测试方法。 DMA控制器、内部总线、I/O控制器、存储控制器和CPU核中不包括在流水线内的逻辑是普通的逻辑电路，采用部分扫描测试方法。 嵌入式微处理器符合边界扫描测试标准IEEE1149.1，芯片的每一个I/O口都附加有一个扫描单元TAP控制器成为整个芯片的测试控制中心。 * * 11.3 可测性设计 11.3.4 边界扫描测试技术 ? 1 原理 2 边界扫描测试标准 1 原理 ◆边界扫描测试的基本思想 在靠近器件的每一输入/输出（I/O）引脚处增加一个移位寄存器单元。在测试期间，这些寄存器单元用于控制输入引脚的状态（高或低），并读出输出引脚的状态。在功能性操作期间，这些附加的移位寄存器单元是“透明的”，不影响电路的正常工作 ◆功能---不仅可以测试IC之间或PCB之间的连接是否正确，还可测试芯片或PCB的逻辑功能 1 原理 ◆移位寄存器组成边界扫描通路 11.3 可测性设计 11.3.4 边界扫描测试技术 1 原理 ? 2 边界扫描测试标准 2 边界扫描测试标准 ◆边界扫描测试的硬件和指令 硬件 测试存取通道（TAP） TAP控制器 指令寄存器（IR） 测试数据寄存器组（TDR） 边界扫描寄存器（BSR） 旁路寄存器（BR） 器件标志寄存器（IDR） 专用的寄存器 2 边界扫描测试标准 ◆边界扫描测试的硬件和指令 指令 专用指令 公用指令 非必有指令 必有指令 旁路(Bypass) 指令 采样/预装载指令 外测试（EXTEST） 内测试（INTEST） 运行BIST指令 取器件标志指令 用户代码指令 组件指令 输出高阻指令 2 边界扫描测试标准 ◆边界扫描设计的基本结构 2 边界扫描测试标准 （1）测试存取端口（TAP） ◆功能--为元件内的测试功能提供存取通道的通用端口 ◆组成 ①测试时钟输入TCK---为测试逻辑提供时钟信号 ②测试模式选择输入TMS---经TAP控制器译码用来控制测试操作 ③测试数据输入TDI---用于向测试逻辑提供串行测试指令和测试数据， TDI端的数据是进入指令寄存器还是进入测试数据寄存器，取决于TAP控制器的状态。TDI的信号在TCK的上升沿被取样和输入 2 边界扫描测试标准 （1）测试存取端口（TAP） ◆组成 ④测试数据输出TDO---是测试指令和测试数据的串行输出端。TAP控制器的状态决定了是将指令寄存器还是数据寄存器里的数据串行地移出到TDO端。TDO数据状态的改变必须且只能发生在TCK信号的下降沿 标准还提供了一个可选用的“测试复位输入TRST*”，它为TAP控制器提供了异步初始化功能，使测试系统强制复位 2 边界扫描测试标准 （2）TAP控制器 T A P 控 制 器 状 态 转 换 图 2 边界扫描测试标准 （2）TAP控制器 ①测试逻辑复位（Test Logic Reset） 2 边界扫描测试标准 （2）TAP控制器 ②运行测试/空闲(Run Test/Idle) ③捕获数据寄存(Capture-DR) 2 边界扫描测试标准 （2）TAP控制器 ④移位数据寄存(Shift-DR) 2 边界扫描测试标准 （2）TAP控制器 ⑤更新数据寄存(Update-DR) 2 边界扫描测试标准 （2）TAP控制器 ⑥捕获指令寄存(Capture-IR) 2 边界扫描测试标准 （2）TAP控制器 ⑦移位指令寄存（Shift-IR） 2 边界扫描测试标准 （2）TAP控制器 ⑧更新指令寄存(Update-IR) 2 边界扫描测试标准 （3）指令寄存器 2 边界扫描测试标准 （4）测试数据寄存器