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FC封装基板简介
HDI Substrate
“Pisa Tower”封装基板
简介
2011-04
Jiang Nan High Density Interconnection
需求与技术驱动 HDI Substrate
产品发展趋向
Jiang Nan High Density Interconnection
需求与技术驱动 HDI Substrate
PCB与基板发展历程
Jiang Nan High Density Interconnection
Technology Drivers HDI Substrate
需求与技术驱动
CSP- Chip Scale Package/Chip Size Package
IC package area/ Si Chip (Die) area 1.2
Micro BGA, uBGA
Jiang Nan High Density Interconnection
Technology Drivers HDI Substrate
需求与技术驱动
Flip Chip BGA Vs. Wire Bonding BGA
电性能
-- Shorter interconnection path
-- Negligible interconnect inductance
热性能
-- More I/O => More Heat
-- More gate => More Heat
-- Increase gate density => More Heat
-- Heat sink can directly attach to the die on a full array FCBGA
组装技术限制
-- Wire bond pitch has become bottle neck for further die shrink
外形因子
-- Allow smaller package than WB BGA with given die size
-- Thinner package is possible
成本因子
-- Shorter processes setting
-- High productivity and time saving
-- Lower material cost
Jiang Nan High Density Interconnection
HDI Substrate
FCBGA
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