TDR测试简介.pptVIP

静电及TDR模块的保护 1.静电产生的原因 1) 移动物品时会产生静电； 2) 摩擦物品时会产生静电； *人体可以储存高达35000V的静电; EOS=Extended Over Stress 增強式过载 低电压EOS现象对TDR模块的损坏 TDR采样头损坏前后对比 静电及TDR模块的保护 1. 正规可靠的测试室设计 ； 2. 合理有效的接地； 3. 实验室合适的温度和湿度； 4. 合理有效的等离子风机； 5. 静电只能有效的预防而无法完全消除； 1. 由于TDR采样头无保护电路,故输入电压仅仅3V就可超出其设计极限，从而损坏采样头，而大多数静电都已大大超出在此范围; 2. TDR测试平台上人员及物品的移动都会产生大量的静电; 3. 静电保护可以有效地减少高电压静电的出现，但仍会残余部分静电，而此类无法完全释放的静电又很容易累积,从而产生EOS过劳损坏的情况；重复多次的低电压EOS是大多数TDR采样模块损坏的最大原因。 小结 Angilent86100A 实物图 TEK TDS8000 实物图 TEK 11801C 实物图 謝 謝! * TDR测试仪简介 TDR工作原理 TDR仪器在电线电缆测量中的应用 TDR仪器使用时的注意事项 第一部分 TDR工作原理 TDR仪器时域反射模式原理 TDR=Time Domain Reflectometry 原理:信号在某一传输路径传送，当传输路径中发生阻抗发生变化时，一部分信号会被反射,另一部分信号会继续延传输路径传输；TDR是通过测试反射波的电压幅度，从而计算出阻抗的变化；同时，只要测量出反射点到发射点的时间值，就可计算出传输路径中各点对应的阻抗值。 TDR仪器的基本构成 TDR系统主要由阶跃信号源及高速采样头组成 ； 其中,阶跃信号源的上升时间决定分辨阻抗不连续点的能力；高速采样头决定阻抗变化位置的准确性。 如何计算阻抗值 从以上公式可知，由于入射电压为已知，故只要测量出反射点的电压值，就可计算出反射系数ρ值；而仪器的输出阻抗Z0 一般都是已知,这样就可以计算出反射点的阻抗值Z值。 如何计算阻抗变化点的位置 TDR可测量出反射点的传输延时，由传输延时值可计算出反射点的位置： V=信号在介质中的传输速度 T=TDR仪器上读取到的延时值 C=光速 ε= 介质常数 TDR经典的三个模型 1. 开路(OPEN)模型 TDR经典三个模型 2. 短路(Short)模型 TDR经典的三个模型 3. 匹配负载(Load)模型 电压与时间变化示意图 反射系统与时间变化示意图 阻抗与时间变化示意图 TDR测量阻抗不连续点示意图 TDR仪器时域传模式原理 TDT=Time Domain Transmission 原理: 信号通过近端采样头发出信号，利用另外一个采样头在远端获取并测量电压脉冲值； TDT与TDR最大的区别是：其一，TDT必须采用两个采样头；其二，TDT信号走过的路径是TDR信号的一半； 第二部分 TDR在电线电缆测量中的应用 TDR測量內容 特性阻抗 (Impedance) 延時 (Delay) 延時差 (Skew) 串音 (Crosstalk) 上升时间(Rise-Time) 特性阻抗(Impedance) 1. 差模阻抗(Differential Mode Impedance ) 2. 共模阻抗(Common Mode Impedance) 3. 单模阻抗(Single Ended Mode Impedance) 特性阻抗(Impedance) Delay是电信号从发送端到测量端所用的时间 可采用TDR及TDT两种模式进行测试 DUT In Out Delay 延時(Delay) Skew是指信號在不同传输链路间的延时差異，分為对间延时差（Inter-Pair Skew)和对内延时差(Intra-Pair Skew)。可采用TDR及TDT两种模式测试。 DUT Delay In Out In Out Skew 延時差(Skew) 串音一般分为近端串音及远端串音两种； 采用TDT模式进行测试；为防止多重反射产生信号干扰，在测试串音时必须加上终端匹配电阻。 串音(Crosstalk) 采样头(OUT) 采样头(IN) 采样头(IN) Load Rise Time一般是指信号上升沿10%~90%区间的时间值。 采用TDT模式進行測試. Rise Time 上升时间(Rise-Time)