运算放大器：稳定性分析5.pdfVIP

 Hello, and welcome to part five of the TI Precision Labs on op amp stability. The previousvideosdiscussedtheconceptsinvolvedinbasicstabilitytheory,as wellas howtotest andsimulatefor stability issuesinSPICEandonthe bench. Thisvideowilldiscusswhycapacitiveloadscausestabilityissuesandwillpresent thefirstcapacitiveloadcompensationtechniqueusin anisolationresistor.  大家好，欢迎来到TIPrecisionLabs （德州仪器高精度实验 )。这里是运 放稳定性分析的第五部分。前面的视频讨论了基本稳定性理论的相关概念， 以及如何在SPICE模型和实验平台上仿真和测试稳定性问题。这个视频将会 讨论为什么capacitiveloads （容性负载）会导致稳定性问题，并且将会给 出第一种，使用isolation resistor （隔离电阻）来补偿容性负载的方法。  Part1ofthe stabilityseriesdiscussedthatthe mostcommoncauseofstability issues in amplifier circuits is on the output. Some common circuits that frequentlyhavelargecapacitiveloadsarevoltagereferencebuffers,cable/shield drivecircuits,andMOSFETdrivecircuits. Inthecaseofthe MOSFETandcable orshielddrivecircuitsthecapacitiveloadisnotalwaysimmediatelyapparent,so be sure to examine if the output is connected to anythin with parasitic capacitance.  稳定性系列视频的第一部分讨论到导致运放稳定性问题的最常见原因是输 出端的电容。一些经常有大电容负载的电路有，voltagereferencebuffers （参考电压缓冲电路），cable/shield drive circuits （线路/屏蔽层驱动 电路），以及MOSFET drive circuits （MOSFET驱动电路）。在MOSFET驱动 电路和线路/屏蔽层驱动电路上，容性负载不能马上能看到，所以一定要检 查运放输出端是否有连接任何寄生电容。  Nowthatwe knowhowtogeneratetheopen-loopcurvesofanopampcircuit, wecansimulatethe effectswith acapacitive loadto determinethe issue. As theresultsshow,the10nFcapacitiveloadresultsinapoleintheAolcurvewhich degrades the Aol*ß phase to only 4 degrees at fc. Let’s examine why this happens.  我们已经知道如何生成一个运放电路的开环曲线，现在可以仿真容性负载的 影响，从而确定问题。如结果所示，10nF的容性负载在Aol 曲线上生成一个 极点，使在fc频率处的Aol*ß曲线的相位降低到只有4度。让我们检查一下 这里的原因。  Ifwetakea lookatasimplified representationoftheopen-loopcircuit,wesee that the input signal passes through the Aol gain block and then the series open-loop output impedance, Ro, before reachin the op amp