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- 2017-06-04 发布于湖北
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第三章 内全反射
本章将给出用于描述微光学器件的有关倏逝场的基本电磁理论。在分
析和处理各种涉及倏逝波的仪器或元件之前,有必要对简单的产生倏
逝波的系统进行分析研究。这些结构可能还会出现在传感器、功率分
割器和光探针显微镜中。下面是几种产生倏逝波的简单系统。
1.平面波内全反射
2.光束小孔衍射
3.光栅衍射
4.导模中的倏逝场
本章主要讨论内全反射现象。讨论内全反射的场分布、各种偏移现象,
并讨论光学隧道效应。
当一定尺度的光束发生全反射时,光束是反射界面平面上会发生偏
移,即所谓“Goos-Hanchen 位移”。还将讨论半无限介质平面上的
全反射受抑现象和超结构的应用和共振隧道效应。
3.1 内全反射的电磁场
3.1.1 Snell’s law
首先讨论折射率n 和n 两种介质构成的界面。平面波以入射角θ
1 2 1
照射导界面。如果n n ,光束发生折射和反射,折射和反射角由
2 1
Snell’ law 描述
n sin θ n sin θ (3.1)
1 1 2 2
如果光束由光疏介质传输到光密介质时 (fig3.1)有θ θ .如果光束
1 2
从光密介质到光疏介质如fig3.2 ;如果入射角小于
θ sin− 1(n / n )
1 2 1
如果入射角小于θ sin− 1(n / n ) 则折射角可以由Snell’s law 计算。θ
1 2 1 1
称为临界角,用θc 表示。
当入射角超过临界角,光线不能在第二介质中传输,发生全反射。但是,第二介质中仍
然有波存在,称为倏逝波。
发生内全反射现象最早是由牛顿发现。但是全面分析该现象要用电磁场理论。
3.1.2 内全反射的电磁场理论分析
设x -y 面为介质1 和介质2 的界面,z 指向是光密到光疏介质。见Fig.3.3 。y =0 面为入
射面。在发生全反射时(θθ ),入射、反射和透射波矢为K 、K 和K 。
c i r x
设入射平面波的电磁场分别为Ei 和Hi
E i H i
x x
E i E i 和 H i H i (3.2)
y i y i
E H
z z
通常将场分解为p 极化(平行于入射面)和s 极化(垂直于入射面,德文:senkrech)。
E E e + E e
p x x z z
(3.3)
Es E e
y y
p 极化也称横电(tensverse)分量,s 极化称横磁分量。
3.1 .3 第二介质中z =0 界面上的电磁场分量
应用电磁场在界面上的连续性方程,得到z=0 界面上包含入射平面波在介质1 中的电
i i
场 E 和 E 的表达式;公式中略去了与时间相关变量exp(j ωt), 和 x 坐标的相关变量
s p
( ( ) )
exp − jxn 1 ω / c sinθ ,( Ref: Axelrod D.,” Total internal reflec
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