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- 2017-06-04 发布于天津
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实验九性能指标的测试实验目的观测在不同温度不同曝光时间下暗流的变化使用仪器计算机实验原理一成像原理是电耦合器件组成电荷耦合器件的基本元件光敏元件是电荷贮存电容器它与电子线路中的金属氧化物半导体电容器电路非常相似见图是由金属氧化层绝缘层型半导体三层材料组成的器件电偶合器件的基本单元内金属层做成电极在型半导体上加上正电压并达到某个特定值后在半导体层内会形成一个电荷贮存区也叫位阱这时如有光照则该区内会有电荷积累且其电荷数量与光辐射强度成正比每一个电荷贮存电容器中电荷贮存区所积累的电荷与相应像元的光强相
实验九 CCD性能指标的测试
实验目的：
观测在不同温度、不同曝光时间下CCD暗流的变化。
使用仪器：
ST-9CCD、计算机。
实验原理：
一、CCD 成像原理
1．CCD是电耦合器件
组成电荷耦合器件的基本元件(光敏元件)是电荷贮存电容器。它与电子线路中的金属氧化物半导体电容器(MOS)电路非常相似，见图sh16.1。MOS是由金属、氧化层（绝缘层）、P型半导体三层材料组成的器件。电偶合器件的基本单元内金属层做成电极，在P型半导体上加上正电压（VG）并达到某个特定值（Vh）后，在半导体层内会形成一个电荷贮存区（也叫位阱），这时，如有光照，则该区内会有电荷积累，且其电荷数量与光辐射强度成正
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