实验六TTL门电路的测试与使用剖析.pptVIP

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  • 2017-06-05 发布于湖北
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实验六TTL门电路的测试与使用剖析

实验六 TTL门电路的测试与使用 一、 实验目的 1.掌握TTL与非门逻辑功能的测试方法 2.熟悉TTL与非门主要参数的测试方法 3.掌握通用实验底板的使用方法 * * 二、实验原理 实验使用的TTL集成门T1020(或T4020、T063等)是双4输入端与非门。 即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门,每个与非门有4个输入端。其逻辑表达式为 :Y= 。 其典型的内部电路图和逻辑符号如图1-3-3所示。器件引出端排列图在本书末附录中可查到。 所有TTL集成电路使用的电源电压均为VCC=+5V。 三、实验内容及步骤 1、测量与非门74LS20的静态参数(电源电压VCC=5V ),列出真值表。 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 · · · Y A B C D 74LS20芯片引出端排列图 2、测量图1-3-5中所示各电路的逻辑功能,并根据测试结果,写出它们的逻辑表达式。 74LS00芯片引出端排列图 图1-3-5(a) 0 0 0 1 1 0 1 1 Y A B 根据实验结果写出真值表 图1-3-5(b) 0 0 0 1 1 0 1 1 Y A B

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