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表计智能检测专栏 电表芯片的可靠性测试与验证 杭州万工科技有限公司 刘伊宁 本文简要介绍了芯片可靠性的相关标准和针对电表应用的 ■ STACK（ ） 芯片可靠性的特点，结合万工科技多年的实践经验，就电表芯 STACK是一个成立于1974年关注于芯片质量和可靠性的国际 片的可靠性测试与验证提出了一些具有可操作性的理解，以供 标准化组织。其前身是一些在国防和空间应用领域的芯片供应商 同行参考。 的产业联盟，由该组织所制定的标准相较于其他标准更为细致严 格，并更具有可操作性。近年来也常常被各大芯片供应商作为产 芯片的可靠性标准 品可靠性的标准采用，同时严苛复杂的认证过程也是其特点。 可靠性指产品、系统在规定的条件下，规定的时间内， 完成规定功能的能力。从逻辑上，可靠性的定义包含了三个方 电表芯片的可靠性标准 面：规定条件、规定时间和规定功能。 电表芯片的可靠性测试与验证遵循芯片行业标准。但是， 目前国际主流的芯片可靠性标准繁多，虽然各标准对芯片 相较于消费类等其他芯片应用行业，电表行业又有其显著的行 可靠性的测试与验证都有其详细的定义、规范和操作指导。然 业特点。例如：电表的工作环境比较恶劣；电表的有效使用寿 而各标准因行业不同又各有所侧重，同时在规范定义和具体操 命要求较长等。所以，笔者认为，针对电表应用的芯片的可靠 作细节上也有细微差别。就影响范围而言，以下几个标准是相 性的测试与验证，需要重点关注以下几个方面：电气可靠性、 对流行和权威的。 环境可靠性和长期可靠性。 ■ JEDEC（ ） JEDEC固态技术协会，作为微电子产业的领导标准机构， 电气可靠性 在过去的50多年的时间里，JEDEC所制定的标准为整个微电子 在芯片的可靠性测试里，电气可靠性主要指芯片的电气防 行业所接受和采纳。与可靠性相关的主要标准族群为JESD22系 护性能方面的可靠性，主要考验芯片的电路设计能力和制造工 列等。 艺，其相关测试主要有ESD测试和LU测试两个方面。 ■ MIL-STD ESD测试，又称静电放电测试。顾名思义，是通过预设 MIL-STD是美国国防部颁布的相关标准。虽然该标准是美 的电路将高电压等级的静电短时间内释放到芯片对应管脚的测 国军方标准，但由于美国在标准化进程和微电子行业的领先地 试，其目的是为了测试芯片对静电放电的抵抗能力。由于静电 位，MIL-STD的可靠性标准族群MIL-STD 883也常为广大芯片 已经成为芯片现场应用的第一大杀手（据调查，35%以上的现 厂商所认可和采用。 场失效芯片是由于静电造成的，每年造成的直接经济损失达数 十亿美元），所以，能否通过ESD测试是芯片电气性能是否可 靠的重要标志之一。 根据实际使用环境的不同，ESD测试主要有三种模型：人体 放电模型、机器放电模型和充电放电模型，主要区别在于放电电 压和放电时间的不同。如无特殊要求，一般测试以人体放电模型