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超声端部回波法缺陷测高技术.pdf
维普资讯
第29卷 第2期 无 损 探 伤 Vo1．29NO．2
2005年 4月 N D T A prl1．2OOS
日 本 标 准 NDIS2418—1996
超声端部回波法缺陷测高技术
中图分类号：TGll5．28 文献标识码 ：C 文章编号：1671—4423(2005)02—21—09
(Jz接 2005第 1期) 8．5．2 缺陷上下端部相对 回波高度△HFu和
8．5 缺陷上端部和下端部相对 回波高度△ 日u和 △ 日FL的测定 缺陷上下端部的回波高度如图9所
△ 日 的测定 示，用相对回波高度△ 日u和△H (dB)表示，即
8．5．1 缺陷上端部和下端部回波高度的调整 将 用 dB表示缺陷上下端部 回波相对于H线 的波高
检出的缺陷上端部和下端部回波高度，用增益旋钮 比，由(8)、(9)式算出：
调整到与H线一致，如图9所示。 △ Fu= HFu— HSo(dB) (8)
探 面 l 表面 △ L=H 一HSo(dB) (9)
ll ／／1 式中 △H u(dB)一缺陷上端部相对回波高度
△日FL(dB)一缺陷下端部相对回波高度
日s0(dB)一H线制作时的增益读数
擦头位置 日u(dB)一缺陷上端部回波高度与H线
一 致时的增益读数
日FL(dB)一缺陷下端部 回波高度与H线
留
Ⅲ
毯 一 致时的增益读数
犍
厦 8．6 缺陷上下端部回波声程 u和 的测定
8．6．1 缺陷上下端部回波声程 u和 FL，原则
上应读出缺陷上端部和下端部回波高度与H线一
致时的回波前沿位置 ，读数精确到 0．1mm或刻度
缺陷上端部回波Fu达H线时的状态
(a)缺陷上螭部 Fu 单位的 1／10。
8．6．2 当示波屏上出现图 10所示噪声或杂波时，
缺陷上端部和下端部 回波的前沿位置 ，应读 出峰值
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