过量阳离子表面活性剂插层硅酸盐.pdfVIP

2003年全国高分子学术论文报告会 杭州2003 111旦!二!!! 过量阳离子表面活性剂插层硅酸盐 赵盅去覃永新唐涛+黄葆同 (中国科学院长春应用化学研究所高分子物理与化学国家重点实验室，长春130022 E-mail：ttangeciac．j1．cn) 近年来，层状硅酸盐能通过插层方法，与聚合物形成具有优良的性能纳米复合材料而倍受 关注。由于层状硅酸盐本身是亲水的，因而在制备聚合物，硅酸盐纳米复合材料的过程中，要 通过阳离子交换反应使它们具有亲油性显得尤为重要。以前，许多文献指出，当硅酸盐片层 中的无机阳离子被完全置换出以后，插层剂再不能插入硅酸盐片层或硅酸盐层间距不再增大。 在他们的工作中，往往使用过量的插层剂来改性硅酸盐以便将硅酸盐片层之间的无机阳离子 完全置换出。 然而，我们在研究中发现，过量的改性剂能促使硅酸盐层间距连续增大，而且过量的阳 离子改性剂能够对有机硅酸盐和纳米复合材料产生重要的影响。首先将浓盐酸和十八胺按等 摩尔比分散在80oc去离子水中，然后倒人80oc硅酸盐分散液中，并机械搅拌30分钟。用 1000目尼龙布过滤沉淀，再用80℃去离子水冲洗三次，最后，将样品干燥。在上述同样条 件下，仅仅改变改性剂含量，重复实验。改性剂含量分别为硅酸盐离子交换能力的62．5％，lOO％ 和OMS250。 图1改性硅酸盐的基本层间距和层问改性荆 图2改性的硅酸盐抽提前后的层问距变化 含量随改性荆用量的变化关系 用WAXD和TGA表征改性的硅酸盐，结果发现硅酸盐层间距和其层间插层剂含量均随改 性剂使用量线性递增，如图1所示。用四氢呋喃作溶剂在SoxMt抽提器中抽提改性的硅酸盐， F179 干燥后再用WAXD表征，对比改性的硅酸盐抽提前后的层间距发现，尽管过量的改性剂能进入 硅酸盐层间促使层间距增大，但是过量的改性剂在抽提条件下能够从硅酸盐层间抽出(见图 2)。借助其他表征手段，可以得到以下结论：使用量小于离子交换能力时，阳离子改性剂与 硅酸盐片层以静电作用方式直接作用；当大于离子交换能力时，过量部分改性剂与其反离子 一起进人层间，并通过改性剂之间的亲和作用形成不稳定的夹层。 参考文献 K．Macromolecules 1995，28，4908． (1)Lu，S．；Melo，M．M．；Zhao，J．；Pearce，E．M．；Kwei，T (2)Ogawa，M．；Kuroda，K．Bull．Chem．Soc．Jpn．1997，70，2593 2002，43，4097． (4)Hsu，S．L．C．；Chang，K．C．Polymer Chem．Maler．1994，6，1017． (5)Vaia，R．，A．；Teukolsky,R．K．；Giannefis，E．E 致谢 本项目由国家重点基础研究专项经费(G1999064801)和吉林省杰出青年基金资助。 ExcessIntercalationof into CationicSurfactants Silicates Layered Interlayer Zhao Tao Zhongfu Qin Tan94 Yongxin BaotongHuang State and Institute LaboratoryofPolymer