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金属材料的X射线和γ射线照相检验通则.pdf
标准分享网
第24卷第10期 无损检测 Vol. 24 No. 10
2 0 0 2 年 1 0 月 ND T Oct . 2 0 0 2
ISO 5579 :1998( E)
金属材料的 X 射线和 γ射线照相检验通则
NONDESTRUCTIVE TESTING ———RADIOGRAPHIC EXAMINATION
OF METALL IC MATERIALS BY XAND GAMMARAYS ———BASIC RUL ES
中图分类号: TG115. 28 文献标识码 :C 文章编号 (2002)
3. 1 标称厚度 t
引言
被检区的材料标称厚度。
用 X 射线或 γ射线作透照检验的工件 ,其缺陷 注 :不必考虑制造公差。
可检验性取决于射线照相技术细节。由于射线照相 3. 2 透照厚度 w
( ) 射线束照射方向的材料厚度 , 按标称厚度( 包括
底片的质量不能通过使用像质计 IQ I 完全保证 ,
本国际标准解释了获得良好射线照相质量的基本规 多壁法) 算出。
则和技术程序。 3. 3 工件至胶片距离 b
物体源侧表面至胶片沿射线束中心线方向测出
与特定应用有关的标准应符合这些通则。
的距离。
注 :本国际标准中 ,术语“缺陷”并不涉及拒收与验收的
含义。 3. 4 源尺寸 d
射线源尺寸中的较大值。
1 范围 3. 5 源至胶片距离( SFD)
沿射线束方向测出的射线源至胶片的距离。
本国际标准规定工业 X 射线和 γ射线胶片照相
3. 6 源至工件距离 f
法检测缺陷的通则 ,适用于金属制品和材料的检验。
射线源至工件源侧表面沿射线束中心线方向测
2 引用标准 出的距离。
下列标准包含的条款 ,通过引用构成本国际标 4 射线照相技术分级
准的条款。出版时 ,所示版本均有效。所有标准都
射线照相技术分为两个级别 , 即 A 级 :基本技
会被修订 ,凡采用本标准的单位应考虑研究采用下
术 ;B 级 :优化技术。
( )
列标准最新版的可能性。IEC 国际电工委员会 和
当A 级技术的灵敏度不够时应使用B 级技术。
( )
ISO 国际标准化组织
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