光电子学【五3】.pptVIP

光电子学 第五章 光辐射的探测 第二十讲;问题一：光电效应及特点？ ;vmax光电子逸出最大v h?W，光电发射，入射光?下限（?上限） ——红限?，? ——红限?（长波限）。 ;IK饱和光I；?v入射光通量；SK常数—— 光电发射体灵敏度； 光I?入射光强。入射光?红限值（红限?, ?），产生光。 ;光入射半导体，材料内激发新载流子，电导率变。 ;光照产生电压现象。;光热效应;一接头吸热 ;问题八：光电探测与热探测性能比较？;;第十八讲要点 ;瞬时值平均0 ;光探测系统： 光辐射探测器； 后续电路（前置放大器、主放大电路）； 噪声源： 与信号光检测有关噪声； 与电路有关电路噪声。 ;噪 声;① 量子噪声 ② 暗电流噪声 ;暗I 噪声（散粒） 无光照（暗I），过检测器I，随机起伏—— 散粒噪声。 与暗I 噪声类——漏I 噪声： 器件表面不完善（缺陷及污染）致。 内部I 增益器件——倍增噪声： 倍增过程统计特征产生附加散粒噪声。 ;量子噪声（散粒，不可消）：单位t 达检测器信号光子数随机性，信号电平有关； 散粒噪声：量子噪声起伏，光子及光电子随机性引起； 暗I 噪声：无光照，过检测器I，随机起伏，散粒噪声； 漏I 噪声：器件表面不完善（缺陷及污染）引起； 倍增噪声：内部I 增益器件，倍增统计产生附加散粒噪声； 载流子产生——复合噪声：光激发产生载流子和载流子复合随机性过程，引起I 随机起伏形成； 与?有关噪声：低频（红）和高频（蓝）噪声，白噪声； 背景噪声：伴随光信号从传输介质引入。 ;探测器后放大电路噪声源： R 噪声 前置放大器噪声； 后者对信号影响大。 各种噪声： 有些略； 有些分析原因，抑制或消除。 ;噪声随机信号，不能预见精确性； 规律可循，找规律，解决办法。 光探测器及系统噪声，何时幅度多大，偶然。 随机起伏量遵循统计分布律，统计概率求统计参量。;常见噪声，概率： 泊松分布（离散）； 高斯分布（连续）； 连续变物理量（V，I）噪声遵循高斯分布； 离散物理量（光子，电子数）噪声概率泊松分布——描述大量独立事件统计特性规律。 如，光子达光接收面概率泊松分布（独立）： ;近似，高斯代替泊松分布，误差不大。高斯分布： ;均方值表示随机起伏大小。无规变物理量，瞬时值平均0，均方值定，该物理量变规律。噪声V(I )平方值长t 平均： 噪声上式定。均方根噪声V(I )有效值。 ;非周期起伏信号用功率谱密度，知噪声频率分布特征， 抑制探测系统噪声提供依据。 随t 变信号，傅里叶变换，时域?频域。同信号傅里叶变换与反变换： SN(? )噪声功率? 谱，功率谱密度。 ;随机过程功率频谱自相关函数傅里叶变换。噪声I iN(t)，自相关函数： 噪声I 两不同时刻联系。t =0： 噪声功率。;(5-3-11)代入(5-3-10)： (5-3-12)与(5-3-8)比较： 功率谱密度SN(? )与?无关。(5-3-12) ?? 噪声存在? 范围或测量设备? 范围。 ;实际噪声与光电探测相关噪声功率分布具(5-3-14)特点。 研究噪声功率，求SN(? )可。 散粒噪声与热噪声，处理自相关函数SN(t )，噪声功率谱密度： ;典型功率谱密度曲线。 白噪声宽频范围SN(? )（噪声功率谱密度)不变。 低频与高频噪声——有色，分布部分? 间隔。 ;根据噪声分布，抑制，原则： 信号频带范围，SN(? )（噪声功率谱密度）尽量抑制。 可： ?系统带宽； 滤波装置。 ;不同时刻噪声取值随机，有联系。 噪声关系——相关，否—— 无关。 光探测器，噪声源： 噪声源不相关，总噪声功率各功率叠加：;入射PN结光许多光子，每光子电子空穴对，脉冲I，一些光子不产生电子，光子数Np0，与总光子数Np关系： ;噪声I平方： (5-3-3)，噪声I均方值 光I平均值。光子能量→光I，光电检测器? 响应与矩形响应低通滤波器? 响应等同，引等效带宽??。?? 脉冲宽度T关系： (5-3-22)代(5-3-21)，光量子噪声I ;;有I内增益光电探测器件（雪崩光电二级管），量子燥声和暗I噪声除按倍增效益放大，附加起伏。 每光生载流子不同倍增