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- 2017-06-07 发布于湖北
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* XIDIAN UNIVERSITY 1.1 MOS电容 表面能带图:p型衬底(1) 零栅压情形 理想MOS电容: 绝缘层是理想的,不存在任何电荷; Si和SiO2界面处不存在界面陷阱电荷; 金半功函数差为0。 系统热平衡态,能带平,表面净电荷为0 * XIDIAN UNIVERSITY 1.1 MOS电容 表面能带图:p型衬底(2) 小的正栅压情形 (耗尽层) 小的正栅压:多子耗尽, 表面留下带负电的受主离子,不可动,且由半导体浓度的限制,形成负的空间电荷区。 能带变化: P衬表面正空穴耗尽,浓度下降,能带下弯, 注意:正栅压↑,增大的电场使更多的多子耗尽, xd↑,能带下弯增加 xd:空间电荷区(耗尽层、势垒区)的宽度。 * XIDIAN UNIVERSITY 1.1 MOS电容 表面能带图:p型衬底(2) 大的正栅压情形 (反型层+耗尽层) 大的正栅压: 能带下弯程度↑,表面 EFi 到 EF下,表面具n型。 P衬表面Na-面电荷密度↑,同时P衬体内的电子被吸引到表面,表面出现电子积累,反型层形成。 注意:栅压↑反型层电荷数增加,反型层电导受栅压调制。 阈值反型后, xd↑最大值XdT不再扩展。 * XIDIAN UNI
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