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【2017年整理】TCL_Pixi4-4项目RF不良分析报告
TCL Pixi4-4 项目RF干扰跳点分析报告
制作人:黎志贤
江西合力泰科技有限公司
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一、不良现象
TCL Pixi4-4(CBF6104)项目样品整机可靠性测试中,RF干扰致使屏幕跳点漂移。
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二、分析过程
会议商讨后,从TP软件和硬件2个方面同时进行调试与分析 1,软件调试。
IC厂研发AE针对不良现象
采集数据,分析Log优化程序验
证还是跳点。软件优化不能改善
天线干扰。
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2,硬件排除验证。
割断按键通道的银浆线,验证通话时RF信号频率与按键是否发生耦合而干扰TP工作,验证NG.
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刮掉按键面板油墨,油墨是导电体,验证天线工作的信号是否通过油墨区进入到TP,对TP功能产生干扰,验证NG.
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用铜箔纸包住FPC绑定区与EMI区,验证EMI电磁膜对电磁干扰的屏蔽效果,测试后不是特别稳定,跳点会概率性复现。
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用铜箔纸包住IC并接地,验证射频信号是否进入IC对TP产生干扰。效果有所改善,但重压FPC绑定区域会跳点。
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用铜箔纸包住EMI和FR4补强区并接地,反复测试,跳点没有复现。
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三、结论
电容屏对电磁信号比较敏感,FPC上附上EMI膜可以有效的抑制外来高频电磁波的干扰,减小对信号的干扰,形成一种滤波的作用。 当EMI对外界的电磁干扰不能减弱杂质并屏蔽掉,就会造成对射频信号的干扰而产生副作用。
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四、硬件改善
硬件改善由硬件和结构的同事来完善,谢谢!!
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