一种改进的嵌入式存储器测试算法.docVIP

一种改进的嵌入式存储器测试算法 摘要??基于一种适合于测试测试 二极管，电磁阀 静态简化故障的March?SS算法，提出了一种改进的嵌入式随机存取存储器存储器 　　存储器是用来存储程序和数据的部件，有了存储器，计算机才有记忆功能，才能保证正常工作。它根据控制器指定的位置存进和取出信息。 [全文] 测试算法－March?SSE算法。该算法在测试长度不变的情况下，不仅能测出March?SS算法所测试的全部的功能故障，而且还能检测出March?SS算法所遗漏的固定开路故障，以及大部分的动态故障，故障覆盖率得到了大幅度地提高。 关键词?故障原语,静态故障,动态故障,存储器存储器 　　存储器是用来存储程序和数据的部件，有了存储器，计算机才有记忆功能，才能保证正常工作。它根据控制器指定的位置存进和取出信息。 测试,故障覆盖率? 1 ?引言 ?? 随着深亚微米VLSI技术的发展，大量的不同厂家的电路设计或核集成到一个芯片上。存储器密度的增长使存储器的测试面临着更大的挑战。嵌入式RAM存储器是最难测试的电路，因为存储器的测试通常需要大量的测试模式来激活存储器并将存储器的单元内容读出来与标准值进行比较。在可以接受的测试费用和测试时间的限制下，准确的故障模型和有效的测试算法是至关重要的。而为了保证测试时间和故障覆盖率，测试的好坏大大的依赖于所选的功能故障模型。 ??? 以前大部分关于故障模型的论文都是把故障的敏化固定在最多一个操作上（如一个读或一个写），这些功能故障被叫作静态功能故障。而基于缺陷注入和SPISPI 　　由于SPI(setial peripheralinterface)总线占用的接口线少，通信效率高，并且支持大部分处理器芯片，因而是一种理想的选择。SPI是利用4根信号线进行通信的串行接口协议，包括主／从两种模式。4个接口信号为：串行数据输入(MISO，主设备输入、从设备输出)、串行数据输出(MOSI，主设备输出、从设备输入)、移位时钟(SCK)、低电平有效的从设备使能信号(cs)。SPI最大的特点是由主设备时钟信号的出现与否来确定主／从设备间的通信。一旦检测到主设备的时钟信号，数据开始传输。 CE仿真的DRAMDRAM 　　DRAM即动态随机存储器最为常见的系统内存。为了保持数据， 必须隔一段时间刷新（refresh）一次，如果存储单元没有被刷新，刷新的必要性与DRAM的结构有关，DRAM是靠其内部电容电位来记录其逻辑值的，但是电容因各方面的技术困难无可避免的有显著的漏电现象（放电现象）而使电位下降，于是需要周期性地对高电位电容进行充电而保持其稳定。 的试验分析表明：在没有静态故障的情况下存在另外一种多于一个操作才能敏化的故障（如一个连续的读和写操作），即动态故障。大部分的测试算法主要针对静态故障，对动态故障的覆盖率比较低，但动态故障的测试也是非常重要的[1]。 2? 存储器故障模型 ?? ?故障模型可以用故障原语(Fault Primitive)来表示。单个单元故障用符号S/F/R表示，两个单元耦合故障用符号Sa；Sv/F/R表示。S表示单个单元的敏化操作序列，Sa表示耦合单元的敏化操作序列，Sv表示被耦合单元的敏化操作序列，F表示故障单元的值F {0，1}，R表示读操作的逻辑输出值R {0，1，－}。‘－’表示写操作激活故障，没有输出值。故障原语可以构成一个驱动所有存储器功能故障的操作序列的完整集合。 2.1单个单元静态故障 ?? ?单个单元静态故障有12种可能的故障原语，而这12种故障原语可以看作是一个六个功能故障模型的集合，下面是这六种功能故障：1）状态故障(STate Fault)；2）转换故障(TransitiON Fault)；3）写干扰故障(Write Disturb Fault)；4）读破坏故障(Read Destructive Fault)； 5）伪读破坏故障(Deceptive Read Destructive Fault)；6）错误读故障(Incorrect Read Fault)。这些故障在文章[2]中有详细的解释。 ? ??在文章[3]中提到固定故障(Stuck-at Faults)的故障原语是 /0/-和 /1/-，所以固定故障被认为是状态故障与转换故障的并集。固定开路故障(Stuck Open Fault)[4]是由于断开的字线引起的，即0w1或1w0的操作是不能完成的，所以可以认为是转换故障；另外由于存储器的读出依赖于灵敏放大器，可以认为是错误读故障，所以把固定开路故障认为是转变故障和错误读故障的并集。 2.2静态耦合故障 ?? ?静态耦合故障的故障原语有36种，可以被归纳为以下七种类型的功能故障模型[2]：1）状态耦合故障(State Coupling Fault); 2）干