考试资料 李春福.docx

《材料科学研究方法》考试试卷（第一套）课程号6706606030考试时间120分钟适用专业年级（方向）：材料学、高分子考试方式及要求：闭卷、笔试题　号一二三四总分得　分阅卷人名词解释（每题2分，选做5题，共10分，多答不加分）基态俄歇电子物相分析色散振动耦合热重分析填空题（每空1分，选做20空，共20分，多答不加分）对于X射线管而言，在各种管电压下的连续X射线谱都存在着一个最短的波长长值，称为，当管电压增大时，此值。由点阵常数测量精确度与角的关系可知，在相同条件下，角越大，测量的精确度。对称取代的S=S、C≡N、C=S等基团在红外光谱中只能产生很弱的吸收带（甚至无吸收带），而在光谱中往往产生很强的吸收带。根据底片圆孔位置和开口位置的不同，德拜照相法的底片安装方法可以分为：、、。两组相邻的不同基团上的H核相互影响，使它们的共振峰产生了裂分，这种现象叫。德拜法测定点阵常数，系统误差主要来源于相机的半径误差、底片的伸缩误差、样品的偏心误差和。激发电压是指产生特征X射线的最电压。凡是与反射球面相交的倒易结点都满足衍射条件而产生衍射，这句话是对是错？。对于电子探针，检测特征X射线的波长和强度是由X射线谱仪来完成的。常用的X射线谱仪有两种：一种，另一种是。对于红外吸收光谱，可将中红外区光谱大致分为两个区：和。区域的谱带有比较明确的基团和频率对应关系。衍射仪的测量方法分哪两种：和。DTA曲线描述