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材料微观分析习题及解答（第一章） 1．X射线的本质是什么？用于晶体结构分析的X射线波长一般为多少？ 答：X射线的本质是电磁波，它同时具有波动性和粒子特性。 用于晶体结构分析的X射线波长一般为0.25～0.05nm。 2．什么是特征X射线谱？物质的特征X射线谱取决于什么？ 答：反映物质原子序数特征的X射线构成的X射线谱称为～。 物质的特征X射线谱取决于物质的原子能级结构。 3．在X射线分析中，为什么要使用滤波片？滤波片的原理是什么？滤波片应如何选择？ 答：采用滤波片是希望滤掉两条谱线中的一条，得到“单色”的入射X射线。 滤波片的原理是某物质可以强烈吸收波长的入射X射线，而对于的X射线吸收很少。 滤波片材料是根据靶元素确定的，当靶固定以后，应满足： 当Z靶40时，则Z片＝Z靶－1 当Z靶≥40时，则Z片＝Z靶－2 材料微观分析习题及解答（第二章） 1．将下面几个干涉面（属立方晶系）按面间距的大小排列。 （123）、（100）、（）、（）、（）、（210）、（110）、（）、（030）、（130） 答：由计算得： 晶面 (123) (100) () () () (210) (110) () (030) (130) d(a*) 0.2673 1 0.5 0.3015 0.4082 0.4472 0.7071 0.3333 0.3333 0.3162 排序 10 1 3 9 5 4 2 6 6 8 即(100)(110)()(210) ()()=(030) (130) ()(123) （注：可以直接用h2+k2+l2来比较，更为简单） 2．证实（）、（）、（）属于[111]晶带。 解：由晶带定律： 有： 即（）、（）、（）属于[111]晶带。 3．当X射线在原子列上反射时，相邻原子散射线在某个方向上的波程差若不为波长的整数倍，则此方向上必然不存在反射，为什么？ 答：由波的合成原理可知，两相干波的波程差不为波长的整数倍时，必然存在一定的位相差，其结果就导致了其合成振幅的变化，必然导致X射线的强度减弱或等于零，即存在一定的相消现象，故不发生衍射（即所谓的反射）。 4．当波长为λ的X射线在晶体上发生衍射时，相邻两个（hkl）晶面衍射线的波程差是多少？相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少？ 答：前者为nλ，后者为λ。 材料微观分析习题及解答（第三章） 1．多重性因子的物理意义是什么？某立方系晶体，其{100}的多重性因子是多少？如该晶体转变成四方系，这个晶面族的多重性因子会发生什么样的变化？为什么？ 答：多重性因子为等同晶面个数对衍射强度的影响因子。所谓等同晶面是指面间距相同，晶面原子排列规律相同的晶面。在布拉格条件下，等同晶面同时参与衍射，构成一个衍射圆锥。所以，多重性因子越大，即等同晶面越多，参与衍射的晶面就越多（准确地说，参加衍射的概率越大），对衍射强度的贡献也就越大。 查附录5可知，立方系晶体中{100}多重性因子为6，而对于四方系，其多重性因子为4，这是由于（100）和（001）晶面的面间距不同（不能称为等同晶面）而造成的。 2．总结简单点阵、体心点阵和面心点阵衍射线的系统消光规律。 解： 布拉菲电阵 存在谱线指数hkl 不存在谱线指数hkl 简单点阵 全部 没有 体心点阵 h+k+l为偶数 h+k+l为奇数 面心点阵 h、k、l为同性数 h、k、l为异性数 材料微观分析习题及解答（第四章） 1．在德拜图形上获得了某简单立方物质的如下4条谱线： h2+k2+l2 Sin2θ 38 0.9114 40 0.9563 41 0.9761 42 0.9980 所给出的Sin2θ数值均为CuKa1衍射的结果。试用“α-cos2θ”图解外推法确定晶格常数，有效数字为4位。（λCu- Ka1=1.54050?） 解：对于简单立方，有 及 可得 计算结果为： h2+k2+l2 sin2θ a2 a cos2θ 38 0.9114 24.73648 4.97358 0.0886 40 0.9563 24.81586 4.98155 0.0437 41 0.9761 24.92028 4.99202 0.0239 42 0.9980 24.96791 4.99679 0.0020 解得a=4.997(?) 2．续上题，以为cos2θ外推函数，请用柯亨法计算晶格常数，精确到4位有效数字。 解：柯亨法正则方程为： 其中 计算结果列表如下： a sin2θ θ δ a sin2θ δsin2θ a2 aδ δ2 38 0.9114 72.683 3.230 34.6332 2.9438 1