第六节 原子吸收光谱法.pptVIP

* 3、低温原子化器 低温原子化法又称化学原子化法，其原子化温度为室温至摄氏数百度。常用的有汞低温原子化法及氢化法。 （1）汞低温原子化法 汞在室温下，有一定的蒸气压，沸点为357 ?C 。只要对试样进行化学预处理还原出汞原子，由载气（Ar或N2）将汞蒸气送入吸收池内测定。 * （2）氢化物原子化法 适用于Ge、Sn、Pb、As、Sb、Bi、Se和Te等元素。在一定的酸度下，将被测元素还原成极易挥发与分解的氢化物，如AsH3 、SnH4 、BiH3等。这些氢化物经载气送入石英管后，进行原子化与测定。 * 三、单色器 单色器由入射和出射狭缝、反射镜和色散元件组成。色散元件一般为光栅。单色器可将被测元素的共振吸收线与邻近谱线分开。 四、检测器 原子吸收光谱法中检测器通常使用光电倍增管。光电倍增管的工作电源应有较高的稳定性。如工作电压过高、照射的光过强或光照时间过长，都会引起疲劳效应。 * 6.3 干扰及其消除方法 一、物理干扰 物理干扰是指试液与标准溶液 物理性质有差异而产生的干扰。如粘度、表面张力或溶液的密度等的变化，影响样品的雾化和气溶胶到达火焰传送等引起原子吸收强度的变化而引起的干扰。 消除办法：配制与被测试样组成相近的标准溶液或采用标准加入法。若试样溶液的浓度高，还可采用稀释法。 * 二、化学干扰 化学干扰是由于被测元素原子与共存组分 发生化学反应生成稳定的化合物，影响被测元素的原子化，而引起的干扰。 化学干扰具有选择性，对试样中各种元素的影响各不相同。 * 消除化学干扰的方法： （1）选择合适的原子化方法 提高原子化温度，化学干扰会减小，在高温火焰中PO43- 不干扰钙的测定。 （2）加入释放剂： 镧、锶盐 （广泛应用） （3）加入保护剂：DTA、8—羟基喹啉等，即有强的络合作用，又易于被破坏掉。 （4）加基体改进剂 （5）分离法 * 三、电离干扰 在高温下原子会电离使基态原子数减少， 吸收下降，称电离干扰。 消除的方法是: 加入过量消电离剂，所谓的消电离剂，是电离电位较低的元素，加入时, 产生大量电子，抑制被测元素电离。 K ? K+ + e Ca2++ 2e ? Ca * 四、光谱干扰 谱线干扰： （1）吸收线重叠 共存元素吸收线与被测元素分析线波长很接近时，两谱线重叠或部分重叠，会使结果偏高。 （2）光谱通带内存在的非吸收线 非吸收线可能是被测元素的其它共振线与非共振线，也可能是光源中杂质的谱线。一般通过减小狭缝宽度与灯电流或另选谱线消除非吸收线干扰。 （3）原子化器内直流发射干扰 * 背景干扰 背景干扰也是一种光谱干扰。分子吸收与光散射是形成光谱背景的主要因素。 分子吸收是指在原子化过程中生成的分子对辐射的吸收。分子吸收是带状光谱，会在一定的波长范围内形成干扰。 校正方法： 用邻近非共振线校正背景 连续光源校正背景 Zeaman 效应校正背景 自吸效应校正背景 * 6.4 分析方法 一、 测量条件选择 1、分析线，查手册，随空心阴极灯确定。 2、狭缝宽度 W=DS没有干扰情况下，尽量增加W，增强辐射能。 3、灯电流，按灯制造说明书要求使用。 4、原子化条件。 5、进样量（主要指非火焰方法）。 * 二、分析方法 1. 校准曲线法 标准溶液与试样测定完全相同的条件下，按浓度由低到高的顺序测定吸光度值。 绘制吸光度对浓度的校准曲线，根据试样的吸光度直接求出被测元素的含量。 * 2. 标准加入法 分别取几份相同量的被测试液，分别加入浓度为0，Cs、2Cs 、3Cs… 的标准溶液然后分别测定它们的吸光度。 绘制吸光度对浓度的校准曲线，再将该曲线外推至与浓度轴相交。交点至坐标原点的距离Cx即是被测元素经稀释后的浓度。 * 待测 样品 待测样品 +C1标液 待测样品 +C2标液 待测样品 +C3标液 待测样品 浓度 * 对分析方法的评判： 灵敏度：校正曲线灵敏度、分析灵敏度； 检出限：3(RSN)blank； 精密度：绝对偏差、RSD（相对偏差） 线性范围： 选择性 误差 * 6.5 灵敏度与检出限 一、灵敏度 灵敏度S的定义是分析标准函数 X = f（c）的一次导数S = dx/dc。 在实际的测量中，灵敏度S