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  • 2017-06-12 发布于湖北
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正电子

第四章 近代材料分析仪器 ---正电子湮灭分析方法 电子与正电子的属性 正电子源 22Na衰变示意图 正电子体寿命计算值(ps) 双光子湮没过程动量守恒矢量图 自由态和缺陷态正电子密度分布 5-2 正电子湮灭实验方法 正电子寿命测量系统框图 典型正电子寿命谱(氦辐照Ni) 应用:Al合金正电子寿命-温度曲线 缺陷研究:正电子寿命与处理温度(Fe-Ni) 空位形成过程 正电子寿命-强度(Si辐照-退火) 二、 一维长缝角关联装置 Mo中子辐照前后角关联曲线 多普勒展宽测量装置框图 多普勒增宽曲线 Cu退火及变形 多普勒展宽线形参数定义 金属的S参数与温度T的关系 Co合金S参数随退火温度的变化 应变速率对S-ε曲线的影响 PAT测量裂纹尖端塑性区 S值与退火温度 * 5-1 正电子性质 1ps=10-12 s 1ns=10-10 s PT-湮灭对动量纵向分量 PL-湮灭对动量横向分量 自由态 缺陷态 正电子的捕获效应 空位等效负电荷,正电子择优趋向 正电子空间分布 离子实强烈排斥正电子 e+ 511kev 511kev 闪烁体+ 光电倍增管 单道分析器 一、正电子寿命谱仪 时间 能量 N I= f (λ d, λf , λd) 分辨率:150ps 捕获态湮灭 自由态湮灭 理想寿命普+仪器分辨函数的卷积 T℃ 平均寿命(半高宽) TiAl NiAl F-自由态捕获寿命 V-

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