材料结构表征复习讲义.docVIP

第一章 绪论 材料研究的四大要素：材料的固有性质、材料的结构、材料的使用性能、材料的合成与加工；(P1) 材料的固有性质大都取决于物质的电子结构、原子结构和化学键结构。(P2) 材料结构表征的三大任务及主要测试技术(P3-5) 化学成分分析：传统的化学分析技术、质谱、色谱、红外光谱、核磁共振、X射线光电子能谱； 结构测定： X射线衍射、电子衍射、中子衍射、热分析； 形貌观察：光学显微镜、扫描电镜、透射电镜、原子力显微镜 第二章、红外光谱及激光拉曼光谱 2.1 红外光谱的基本原理 红外光谱定义：当用一束具有连续波长的红外光照射物质时，该物质的分子就要吸收一定波长的红外光的光能，并将其转变为分子的振动能和转动能，从而引起分子振动—转动能级的跃迁。通过仪器记录下不同波长的透过率(或吸光度)的变化曲线，即是该物质的红外吸收光谱。 简正振动振动自由度（3n-6或3n-5)及其特点；(P12) 简正振动类型(P13)；实际观测到的红外基频吸收数目却往往少于3n-6个,为什么? 原因如下： ①如振动过程中分子不发生瞬间偶极矩变化，则不引起红外吸收； ②频率完全相同的振动彼此发生简并； ③强宽峰往往要覆盖与它频率相近的弱而窄的吸收峰； ④吸收强度太弱，以致无法测定； ⑤吸收峰落在中红外区之外。 分子吸收红外辐射必须满足的条件： (P14) 吸收谱带的强度决定于:主要由振动过程中偶极矩的变化以及振动能级跃迁几率两个因素决定。 （P15） 2.2 红外光谱与分子结构 红外光谱分区:官能团区(4000～1330 cm－1)、指纹区(1330~400cm-1) (P15) 基团特征频率定义(P15) 影响因素：内部因素（6种）、外部因素（3种）(P17-21)； 诱导效应(P17)； 2.3 红外光谱图的解析方法 谱带的三个重要特征(P21) 解析技术 (P22) 影响谱图质量的因素 （P24） 影响二次电子像衬度的因素（P327）； 在观察导电性差的样品前，在样品表面真空镀金膜可起什么作用？（P333) X射线能谱仪原理：电子束照射到样品上激发出的特征X射线被Si（Li）半导体检测，转换成电信号。 谱图横坐标表示X光子的能量（与元素种类有关）；纵坐标表示具有该能量的X光子的数目（反映元素的含量）。 EDS定量分析应注意的问题（P341） X射线波谱仪工作原理（P341）； EDS与WDS的比较（P344）； 第七章、X射线光电子能谱分析 X射线光电子能谱定义(P347)； 光电效应截面定义及影响因素（P349）； 原子能级的划分：除s亚壳层不发生自旋分裂外，凡l＞0的各亚壳层，都将分裂成两个能级，在XPS谱图上出现双峰； 在电子能谱研究中，通常用n、l、j三个量子数来表征内层电子的运动状态。 XPS信息深度(P356)； 化学位移及化学环境；(P358) X射线激发源（P361）； 静电型电子能量分析器有几类？特点是？ （P362） 能量分析器的分辨率与电子能量有关（P363） XPS谱图的一般特点： （P365） A、光电发射过程是量子化的，因此来自不同能级的光电子的动能分布是离散形的。 B、随着结合能的提高，背底电子的强度一般逐渐上升。 C、谱线常常呈现锯齿般的曲线，需多次扫描。 常见的谱线有？（P367） 光电子线的谱线宽度；（P368） 俄歇线与光电子线的区分（P370）； 为什么要进行谱图能量校正？（P379） XPS定性分析步骤（P380） EDS与XPS的原理比较； 第八章、材料热分析 热分析定义（P394) 现代热分析仪组成？（P395） 热重分析的定义；（P396）横、纵坐标 热天平中测定重量变化的方法 （P396） 影响热重分析的因素；(P397) 差热分析的定义(P403)；横、纵坐标 参比物常采用什么？（P404） 影响差热分析的因素；(P407) 示差扫描量热分析的定义；(P423)横、纵坐标 仪器哪两类？（P423) 影响示差扫描量热分析的因素；（P425)