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扫描电子显微镜的像衬度及其应用;在扫描电子显微镜中，平面样品法线与入射电子束轴线之间夹角为样品倾斜角?，当入射电子电流ip为一定值时，二次电子电流is随?角增大而增大。若用二次电子产额(或称二次电子发射系数)?来表示每个入射的初始电子能激发出的二次电子数目，则; 如果样品是由的四个小刻面A、B、C、D所组成的，由于?D ＞ ?A= ?C ＞ ?B 所以? D＞ ? A= ?C ＞ ? B，结果在荧光屏或照片上D小刻面的像最亮；A、C面的亮度相等，稍暗；B小刻面最暗。; 随样品倾斜角?增大，入射电子束激发体积靠近、甚至暴露于表层，激发体积内产生的大量自由电子离开表层的机会增多。因此，样品表面尖棱(A)、小粒子(B)、坑穴边缘(C和D)等部位，在电子束作用下产生比样品其余部位高得多的二次电子信号强度，所以在扫描像上这些部位显示异常亮的衬度。;表面形貌衬度的应用;铸钢的解理断口，SE; 舌状花样：也是解理断裂的重要特征之一。它是由于体心立方晶体沿着孪晶面产生二次解理所致。由于“舌”的形状关系，当一侧面朝向检测器时，另一侧就背向检测器，加上倾斜角不一样，因此在扫描电子显微镜图像上，解理舌的一侧显得亮，而另一侧则暗。 ;2、准解理断口 这种断口首先在回火的马氏体钢中发现。从宏观上看，比较平整，基本上无塑性变形，呈脆性状态。这种断裂是穿