HS810TOFD探伤仪说明书.docVIP

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HS810TOFD探伤仪说明书

一、 HS810 TOFD检测仪简介 1.1 HS810功能特点: 高亮度高分辨力彩色液晶显示屏。 内置探头位置编码器。 USB,LAN,VGA输出接口。 大容量数据存储空间。 支持纵波、横波、导波和表面波等模式。 具备A扫、B扫、C扫、CB扫、P扫和TOFD成像。 单次扫查能记录长达20米。 回放图像记录中每点位置的A扫波形。 强化的对活动或冻结的A扫波形信号评估软件。 缺陷尺寸和模式分析。 GB/T4730、EN12668、BS 7706、ASTM、ASME、ENV583 、CEN -14751、NEN 1822、DNV、API、RBIM等标准及新容规、锅规的技术要求 可根据用户要求增减TOFD配置,最多可配置10个通道8个探头同时扫查和记录200mm厚度工件。 配置便于使用的手动、自动扫查器。 配置TOFD探头和PE探头、导波探头。 1.2 HS810便携式TOFD双通道超声波检测仪主要技术性能指标 独立工作通道数 2、4、6、10 最多连接探头 10 脉冲类型 负方波脉冲 脉冲前沿 15 ns 脉冲宽度 50 ns-1000ns连续可调。 工作方式 最多10个通道(3对TOFD探头、4路PE) 阻抗匹配 25Ω /500Ω 扫描范围 零界面入射——1400mm钢纵波 采样频率/位数 125MHZ/12bits 重复频率: 25-800Hz。 实时平均 1-8 检波方式: 数字检波 衰减器精度: +1dB/12dB 工作频率: 0.5~15 MHz 声速范围: 300~20000 m/s 动态范围: ≥30dB 垂直线性误差: ≤4% 水平线性误差: ≦0.3% 分辨力: 36dB(5P14) 灵敏度余量: 60dB(深200mmΦ2平底孔) 波形显示方式 射频波,检波 (全波、负或正半波),信号频谱(FFT)。 成像模式: 根据选择的操作模式和相应的仪器设置显示B扫、C扫、CB扫、D扫、P扫。 直线扫查长度 50~20000 mm自动滚屏 记录方法 完全原始数据记录 离线图象分析: 恢复和回放扫查时记录的A扫波形。 缺陷尺寸和轮廓。 厚度/幅度数据统计分析。 记录转换到ASCII/MS Word/MS Excel格式报告。 数据报告: 直接打印校验表、A扫、频谱图、B扫图像、C扫图像、CB图像、TOFD图像、D扫图像、P扫图像。 内存: 1 G 闪存- Quasi HDD: 4 G 输出: LAN, USB2.0, VGA 显屏: 6.5 高亮真彩色高分辨率 (32 bit) SVGA 640×480 像素 133×98 mm,日光可读 LCD;最大 A扫尺寸 –130×92 mm 控制: 前板密封键盘,鼠标,飞梭。 兼容外部设备: USB键盘和鼠标,USB闪存卡,通过USB或LAN打印,通过USB或LAN连接PC,SVGA外接显示器。 操作系统: 仪器在WinCE环境下工作。全兼容在Windows? 98SE, Windows? 2000, Windows? XP,Vista,Win7下工作的外接计算机,外接计算机通过网络或USB连接进行离线数据分析和报告。 环境温度: (-10--40)°C(参考值) 相对湿度: (20--95)%RH 包装: 进口高强度硬塑箱。 尺寸: 240×160×80 mm含电池 重量: 2.4kg含电池 仪器主要部件名称 本仪器主要部件名称如图1-1所示。 320×256像素的高分辨率显示器 电源指示灯、报警指示灯 触摸键盘 充电插座 护手带 打印机及VGA通讯接口 C9插座 (发射) C9插座 (接收) USB通讯接口 扫查架连接口 键盘简介 键盘是完成人机对话的媒介。本机键盘设有17个控制键和一个飞梭旋钮探伤仪根据不同的状态自动识别各键的不同含意,执行操作人员的指令。下面是各键的具体功能简介。 电源开/关键 多通道探伤中各个通道之间的选择和切换 返回上一级菜单或退出正在运行的功能 对应仪器中的1号菜单 数字输入时的数字“1” 切换数字输入时的光标聚点及分析线之间的切换 对应仪器中的2号菜单 数字输入时的数字“2” 调用工艺文件和参数文件 对应仪器中的3号菜单 数字输入时的数字“3” 保存工艺文件和参数文件到仪器存贮器 对应仪器中的4号菜单 数字输入时的数字“4” 打印缺陷图谱或探伤报告 对应仪器中的5号菜单 数字输入时的数字“5” 冻结屏幕上的波形 数码飞梭旋钮,用于调节参数和数字输入与上下左右方向键相同。 确认数字的输入 子功能菜单/操作功能键

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