EAST辅助加热条件下有效电荷数的测量和分析.pptVIP

EAST再加热条件下有效电荷数的测量和分析 报告人 陈颖杰 指导老师 吴振伟 研究有效电荷数的意义 杂质不仅影响等离子体的纯度，还会对等离子体产生很多不利的影响： 1，增加辐射损失； 2，影响等离子体参数的空间分布和等离子体的总体能量约束时间； 3，使工作元素的离子浓度稀化，影响聚变反应功率密度； 4，诱发辐射不稳定性 Zeff是衡量杂质含量及其影响的主要物理参量，是进行其它物理分析的基本参数。 Zeff可由光谱测量、电磁测量、X射线测量、电荷交换复合等方法得出。 可见轫致辐射光谱诊断测量Zeff的原理 有效电荷数的定义： 可求得弦平均有效电荷数： EAST八道轫致辐射系统示意图 现状 约束时间得到改善 在许多托卡马克实验中，均己观测到杂质密度分布比主离子(氢及其同位素)密度更峰化，此称为杂质聚积现象(Impurity Accumulation) 研究杂质聚积机理，以实现对杂质密度分布的有效控制 杂质密度峰化的机制，与Z、碰撞频率等参数的关系； RF加热对杂质密度峰化的影响、机制；与加热方案、沉积位置的关系；控制杂质峰化的手段； 杂质输运--新经典输运 新经典输运通量 的符号取决于主离子和杂质的碰撞状态，在现有大中型托卡马克和ITER的参数范围内，它为负值，这表明峰化的离子温度分布将驱动向外Pinch，称为温度屏蔽效应。 温度屏蔽的有效性可用比值 表征，当 值增大时，其值从 -0.2 变到 -0.5 杂质峰化因子大致有: RF加热对杂质峰化的影响 RF加热可避免中、高Z杂质在ITB内的峰化 DIII-D QDB (9MW NBI+2MW ECH) 研究内容 分析研究不同辅助加热条件（LHRH，ICRF）和不同加热功率情况下Zeff弦平均和空间分布的变化规律，并进行对比； 监测等离子体内能、温度、密度的变化，分析杂质对不同加热方式效率的影响； L，H模条件下，Zeff的变化和分析； H-Mode、ITB情况下，杂质分布、峰化的研究； 分析Zeff的变化对粒子和能量约束时间的影响，研究如何降低Zeff，提高等离子体参数、约束时间； 在EAST偏滤器位形、限制器位形，以及硼化、硅化、锂化后，等离子体有效电荷数分布和变化的规律；并与H-T7实验结果进行对比，比较各种条件下Zeff的变化规律，寻求降低杂质含量的机制； 结合杂质线辐射结果进行分析对比，分析杂质各成分的含量，从而得到不同壁条件、加热功率条件对杂质的影响； 进度安排和计划 掌握轫致辐射的相关理论； 学习各种光谱诊断的方法和原理； 对各光谱诊断系统能够熟练操作； 对实验所得结果进行分析处理，对杂质行为进行研究。 参考文献 [1]Z.W. Wu et al.，Journal of Nuclear Materials 363–365 (2007) 1380–1385. [2]石秉仁，磁约束聚变原理与实践.原子能出版社.1998. [3]D.G.Whyte et al.，Nuclear Fusion，Vol.38，No.3(1997). [4]S.Morita et al.，Zeff Measurements in ATF Using Visible Bremsstrahlung. [5]S.Morita et al.，Zeff Measurement an Analysis of Reheat-Mode Discharges In W7-AS. [6]M.Pallant，P.D.Morgan，A comparison of two methods of determining the average Z-effective in JET，from visible continuum emission. 谢谢各位老师~ * * Zeff可由可见轫致辐射功率分布求出： 岗特因子 波长的选择 EAST光谱诊断系统 EAST可见紫外杂质光谱 测量C，O，B等杂质线辐射随等离子体放电时间的变化来确定等离子体中杂质含量及其行为变化,可以选择任意两条特征谱线同时测量 EAST 两套OSMA光谱 此外，还有光纤光谱仪进行全谱测量 H-T7上的实验结果 W7-AS上的实验结果 通过EAST上现有的八道轫致辐射系统测量， 以及杂质线辐射及全谱的监测： * Sheet4 Sheet3 Sheet2 Sheet1 Chart11 放电条件 Ne=1.0 Ne=1.5 Ne=2.0 Ne=2.5 Ne=3.0 Ne=3.5 Ne=4.0 plhi=0 备注 plhi=100 plhi=200 plhi=300 plhi=400 plhi=500 HT7等