AFM的理及应用.pptVIP

Atomic Force Microscopy 原子力显微镜（AFM）;目录：;高级显微镜;;隧道效应;AFM出现的意义;成 像 原 理;恒定力量或者恒定高度;探针如何成像;表面形貌和材料如何测量;AFM有多种工作模式;接触式原子力显微镜;特点：;接触式（ contact mode）;非接触式原子力显微镜;特点：;非接触式（non contact mode）;间歇接触式原子力显微镜;;特点：;间歇接触式（tapping mode）;原子力显微镜的构成;紧况树骋迂栖峻芦母褐栖窝项仪堕男涩曝灭抽胁达惰揉罩阉虏笺打殿册精AFM的原理及应用AFM的原理及应用;;在原子力显微镜的系统中，可分成三个部分：力检测部分、位置检测部分、反馈系统。;力检测部分：???????在原子力显微镜（AFM）的系统中，所要检测的力是原子与原子之间的范德华力。所以在本系统中是使用微小悬臂（cantilever）来检测原子之间力的变化量。这微小悬臂有一定的规格，例如：长度、宽度、弹性系数以及针尖的形状，而这些规格的选择是依照样品的特性，以及操作模式的不同，而选择不同类型的探针。 ;;位置检测部分：???????在原子力显微镜（AFM）的系统中，当针尖与样品之间有了交互作用之后，会使得悬臂（cantilever）摆动，所以当激光照射在cantilever的末端时，其反射光的位置也会因为cantilever摆动而有所改变，这就造成偏移量的产生。在整个系统中是依靠激光光斑位置检测器将偏移量记录下并转换成电的信号，以供控制器作信号处理。; 反馈系统：??????? 在原子力显微镜（AFM）的系统中，将信号经由激光检测器取入之后，在反馈系统中会将此信号当作反馈信号，作为内部的调整信号，并驱使通常由压电陶瓷管制作的扫描器做适当的移动，以保持样品与针尖保持合适的作用力。???????; 原子力显微镜（AFM）便是结合以上三个部分来将样品的表面特性呈现出来的：在原子力显微镜（AFM）的系统中，使用微小悬臂（cantilever）来感测针尖与样品之间的交互作用，测得作用力。这作用力会使cantilever摆动，再利用激光将光照射在cantilever的末端，当摆动形成时，会使反射光的位置改变而造成偏移量，此时激光检测器会记录此偏??量，也会把此时的信号给反馈系统，以利于系统做适当的调整，最后再将样品的表面特性以影像的方式给呈现出来。 返回;提高图像分辨率;;AFM针尖放大效应;;微悬臂检测方法;;AFM应用技术举例;;IBM科学家首次拍下单分子照片;二氧化锡薄膜;分选和搬运;火星土壤;遭疟疾感染的人体红血球和蓝藻;AFM的缺点