- 1、本文档共4页,可阅读全部内容。
- 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
- 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载。
- 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
常见的成长曲线归纳介绍
1. Rayleigh模型
Rayleigh模型是Weibull分布的一种特殊形式,是一种常用的模型。Weibull分布最重要的一个特征是它的概率密度函数的尾部逐渐逼近0,但永远达不到0,在许多工程领域都使用了很多年。Rayleigh模型既可以对软件开发全生命周期进行预测,也可以仅对测试阶段的缺陷分布进行预测,得到所期望的时间间隔t与所发现缺陷的关系。对于成熟的组织,当项目周期、软件规模和缺陷密度已经确定时,就可以得到确定的缺陷分布曲线,并可以据此控制项目过程的缺陷率。如果项目进行中实际的缺陷值与预估的缺陷值有较大差别时,说明中间出现问题,需要加以控制。
1) Rayleigh模型的函数形式
Rayleigh模型的累积分布函数(CDF):F(t)=K*(1-exp^(-(t/c)^2));
Rayleigh模型的概率密度函数(PDF):f(t)=2*K*t/(c^2)*( exp^(-(t/c)^2))。
上面两个函数中,t是时间自变量,c是一个常量(c=2^(1/2)tm,tm是f(t)到达峰值对应的时间),K是曲线与坐标形成的面积(总缺陷数),也是我们要估计的参数。多年的预测经验得到缺陷在tm时间的比率(F(tm)/K)约等于0.4,即在f(t)到达最大值时,已出现的缺陷大约占总缺陷的40%。按照这个推导,在某一时间就可以估算出总的缺陷数以及具体的Rayleigh分布参数,从而将缺陷的计算过程简化。
2) Rayleigh函数对应的图
图1 Rayleigh模型的CDF图
图2 Rayleigh模型的PDF图
由图1——CDF图可以看出,累积密度最终趋近一个最大值(K);由图2——PDF图可以看出,缺陷随时间逐渐降低最终趋向于0。
3) 使用Rayleigh曲线来建模软件开发质量涉及两个假设:
在开发过程中观察到的缺陷率与应用中的缺陷率成正比关系。对应于图1来说,也就是如果开发过程中观测到的缺陷率越高,CDF中图的幅度越高,K值越大;
给定同样的错误植入率,假如更多的缺陷被发现并更早将其移出,那么在后期阶段遗留的缺陷就更少,应用领域的质量就更好。对应于图2来说,曲线与X、Y轴围成区域的面积是一定的(总的缺陷数是确定的),如果在前期移除较多缺陷,即曲线的峰值点前移,那么后期曲线的面积就会小,代表后期遗留的缺陷数减少。
4) 使用场景:收集数据应当越早越好;且需要持续的追踪缺陷数。
5) 优势:随时间信息的缺陷密度可预测,因此在测试阶段使得找到并验证缺陷的估计成为可能。
6) Rayleigh模型没有考虑到变化调整的机制,所以可能会影响到缺陷的预测。
2. 指数模型
指数模型是针对测试阶段,尤其是验收类测试阶段的缺陷分布的模型,其基本原理是在这个阶段出现的缺陷(或者失效模式,我们这里讨论的是缺陷)是整个产品可靠性的良好指证。它是Weibull系列的另一个特例。指数模型是许多其他可靠性增长模型的基础。指数模型可分为故障/失效计数模型(fault/failure count model)和失效间隔时间模型(time between failures model)。基本的指数模型的累积缺陷分布函数(CDF)为y=K*a*b^t,修正指数模型在基本指数模型曲线函数上加一个常数因子。
1) 指数模型的函数形式
指数模型的累积缺陷分布函数(CDF):F(t)=K*(1-exp(-λ*t));
指数模型的缺陷概率密度函数(PDF):f(t)=K*(λ*exp(-λ*t))。
其中,t是时间,K是总缺陷数,λ与K是需要估计的两个参数。
2) 指数模型对应的函数图
图3 指数模型的CDF图
图4 指数模型的PDF图
2) 指数模型的关键假设:测试工作量在测试阶段中是均匀的。
3) 使用:指数模型预测缺陷时是基于正式的测试阶段的数据的,因此它主要适用于这些阶段,最好在开发过程后期——例如最后的测试阶段。但在交付用户使用后,用户发现的缺陷模型,与交付用户之前的模型往往有很大差别,这是由于交付客户后影响客户的测试的不确定因素更多。
4) 优势:最简单最有用的模型之一,易于使用和实现。
5) 缺陷:假设测试的工作量在整个测试阶段是均匀的。
3. NHPP模型(非齐次泊松过程模型)
NHPP模型是对在给定间隔内观察到的故障数建模,它是指数模型的一个直接应用。
1) NHPP模型的函数形式:其中,参数的含义与指数模型相同
NHPP模型的累积缺陷分布函数(CDF):F(t)=K*(1-exp(-λ*t));
NHPP模型的缺陷概率密度函数(PDF):f(t)=K*λ*c^(-λ*t)。
2) NHPP模型对应的函数
文档评论(0)