一种基于参考切片相容的测试数据压缩方法.pdfVIP

第 2卷第 5期 2013年9月 网 络 新 媒 体 技 术 VoS1．2No．5 ep．2013 一 种基于参考切片相容的测试数据压缩方法 吴殿丞 2 朱 浩 2 王东辉 侯朝焕 (中国科学院声学研究所 北京 100190 中国科学院研究生院 北京 100190) 摘要：为了减少集成电路测试数据量 ，本文提出一种基于参考切片相容的广播式编码压缩方法。以使用两个扫描切片作为参 考切片为例介绍了对该编码方法进行了介绍。当测试图形的切片与参考切片直接相容或移位相容时，仅使用3或5比特长度 的码字对其编码以实现压缩 ；提出一种参考切片无关位 回溯赋值的方法以保证一致性。针对所提出的编码压缩方案设计了 相应的解压缩电路。通过实验数据证实了该方案的有效性。 关键词：测试数据压缩，自动测试设备 ，有限状态机 ，无关位 A M ethodBasedonReferenceSliceCompatibilityforTestDataCompression WU Diancheng ，ZHU Hao ，WANG Donghui，HOU Chaohuan (InstituteofAcoustics，ChineseAcademyofSciences，Beijing，100190，China， GraduateUniversityofChineseAcademyofSciences，Beijing，100190，China) Abstract：Aimingatreducingtestdatastoragevolume，thispaperproposesabroadcastcodingmethodbasedonreferenceslicecompati— bility．Firstlythepapertakesusingtworeferenceslicesforexampleinordertointroducethemethod．Ifascsnsliceiscompatiblewith eitherofthesliceoreither’S “Shift—One—Bit”result，itcanbecodedwithonlythreeorfivebits；italsoproposesabacktracking methodtoassignthedon’t—carebitsinthereferenceslicestoguaranteethecoherence．Thenadecompressioncircuitcorrespondingto theproposedschemeisdesigned．Atlast，thesimulationresultvaliditiestheproposedmethod． Keywords：testdatacompression，AutoTestEquipment(ATE)，FiniteStateMachine(FSM)，don’tcarebit 1 引言 随着集成电路工艺的发展与设计规模的复杂化，集成电路难以测试的问题显得越来越突出，测试数据量 大，测试时间长，测试功耗高是测试领域面临的主要问题。测试数据压缩技术能够有效降低测试数据量和测 试时间，降低对 自动测试设备 (ATE)存储空间的需求，是 目前最常用的降低测试成本的手段之一l1．2]。 测试数据压缩分为测试激励压缩和测试响应压缩两方面，其中测试激励压缩的方法主要分为三类 ：①基 于编码的方法，如游程编码、字典编码和统计编码方法等；②基于线性解压缩器的方法，如 EDT(Embedded DeterministicTest)压缩方法 ；③广播式扫描方法，如 Illinois扫描结构和基于MUXs网络的压缩方法。由自 动测试图形生成(ATPG)算法所生成测试激励数据中往往包含大量的无关位x，对这些无关位可以任意的赋 值为0或 1而不会影响测试覆盖率。因此选择某种压缩机制并在该机制下对x适当地赋值能够提高测试 数据压缩率 本文于2012—05—04收到，2012—07—17收到修改稿。 5期 吴殿丞 等：一