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基于DSP的高速动车组车内噪声测试系统设计
第39卷第3期 中国测试 Vo1.39 No.3
2013年 5月 CHINA MEASUREMENT & TEST May,2013
基于DSP的高速动车组车内噪声测试系统设计
辛 光.伍川辉
(西南交通大学机械工程学院,四川 成都 610031)
摘 要:为满足高速动车组车内噪声试验的需求,设计一种基于DSP的噪声测试系统,对测试系统的设计方案以及
软硬件实现进行介绍。系统由控制部分和运算部分组成:控制部分以高性能、低功耗的基于ARMCoaex—M3内核的
微控制器 STM32F103ZET6为核心,扩展了A/D采集模块、NANDFlash存储模块以及蓝牙通信模块 ;运算部分以TI
公司的低功耗DSP芯片TMS320VC5509A作为核心 ,负责对采集的噪声数据进行实时处理,并把结果交给ARM发
送给上位机,以实现对试验效果的实时观察;ARM与DSP通过双端口RAM相连接,使得两种处理器间的频率差异
得到解决并能有效地实现数据交换。实验证明:基于DSP的噪声测试系统能很好地满足高速动车组车内噪声试验对
噪声数据采集和实时处理的需求。
关键词:测试系统;DSP;ARMCodex—M3内核 ;高速动车组 ;车内噪声 ;双 口RAM
中图分类号:TP216.2;U292.91+4;TB535;TP274*.2 文献标志码:A 文章编号:1674—5124(2013)03—0084—04
High-speedEM Usinteriornoise testsystem based on DSP
XIN Guang.WU Chuan-hui
(SchoolofMechanicalEngineering,SouthwestJiaotongUniversity,Chengdu610031,China)
Abstract:In order to meetthe demand of interiornoise testsforhigh—speed EMUs. a DSP—
basednoisetestsystem wasdesigned.Thesystem consistsofthecontrolpartandthecomputation
section.High—performanceandlow powerconsumptioncontrolparttakesARM Cortex—M3core—
based microcontrollersSTM32F103ZET6 asthe core and extendsA/D acquisition module,NAND
Flash memo~ module, and Bluetooth communication module.Computing parttakes TI’S low—
powerDSP chipsTM$320VC5509A asthe core and itisresponsibleforcollectingthenoisedata
in real-timeprocessing.and sending theresultstothehostcomputerthrough theARM in order
to achievereal—timeobservationofthetestresults.ARM and DSP wereconnectedwith thedual—
port RAM ,whichmadethefrequencydifferencesbetween twoprocessorsresolvedwith effectivedata
exchange.Experimental results show thatthe noise test system based on DSP can meet the
demandsofnoisedataacquisitionandreal—timeprocessingofrhigh—spe
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