基于ATE的SOC共时测试的实现方法.pdfVIP

编辑：李秋花 业 行 应用 I E-mail：liqh@cesi．cn Applicati I on 基于ATE的SOC共时测试的实现方法 ImplementationMethodofSOCConcurrentTestBasedonATE ■ 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 陶新萱 摘 要 共时测试是一种并行测试方法，基于机台硬件资源的独立性，结合软件的多端 口特性，可对不同测试 条件和测试原理的电路模块进行有效的并行测试。V93000具有per—pin的硬件结构，每个数字通道具有独立 的测试处理器，满足共时测试的需求。在对不同V93000ATE机台中如何采用共时测试方法对 S0C芯片进行 测试讨论的基础上，重点对不同测试频率的并行实现方法进行分析，该方法相对传统的串行测试，可以有效降 低测试时间。 关键词 S0C测试 共时测试 ATE 测试方法 Abstract：Concurrenttestisaparalleltestmethod，basedontheindividualhardwareresources，withthemulti—port characteristicofsoftware，effectiveparalleltestofdifferentcircuitiscarriedout．Withtheper-pinhardwarearchitecture andtestprocessorperdigitalchannel，V93000ATEfulfillstheconcurrenttestneeds．Thisarticlegivesastudyofthe concurrenttestofSOCbasedonV93000，especiallytheparalleltestmethodofdifferentfrequency．Withthismethod，the testtimeisreducedeffectivelycomparedtotheserialtest． Keywords：SOCtest；concurrenttest；ATE；testmethod 1引言 需求。本文主要研究了V93000机台中各功能模块不 同测试频率 的共时测试方法 。 信息产业的迅猛发展和半导体技术 的不断提升， 对 系统单芯片 (System—on—Chip，SOC)提出了更高的 2ATE中共时测试原理 要求。SOC芯片 中可以集成越来越多不 同的功能模 块 ，使得测试的复杂度不断上升 。如何对 SOC进行 数字通道的per—pin结构是 V93000硬件构架 的 有效测试、降低测试成本成为业界努力解决的问题。 重要特点 ，即每个数字通道具有 自己独立的测试处 以往 SOC芯片测试 ，大多采用分模块测试的方 理器、驱动器、比较器、参数测量单元 (PMU)和测 式 ，例如先测试数字部分的 电路功能是否正常，然 试 向量存储器 ，使每个数字通道都具有强大的数字、 后测试 内存部分 ，再测试模拟部分 ，依此类推。这 SCAN和 memory等测试功能，同时也为不同管脚的 种方式 比较简单 ，可 以直接从现有 的各种测试转移 并行测试提供了硬件条件。 过来，但费时间。现在有一种新的测试方法 ，可 以 结 合硬件 结构 的独 立性，V93000软