单片机技术及应用(专科).docVIP

《单片机技术及应用》 实验报告 实验学期： 2014 至 2015 学年 第 一 学期 年级： 专业班级： 姓名： 学号： 指导教师： 机械工程学院制 实验室： 实验时间： 班级： 姓名： 学号： 实验一：单片机实验开发系统的使用、清零程序 实验目的和要求 （1）熟悉单片机仿真实验系统的组成及使用。 （2）了解单片机的内部结构及各部分功用。 （3）掌握汇编语言程序的完整格式。 实验设备 Dais-586PH+单片机仿真实验系统、PC机 实验设计及调试 实验内容 了解单片机仿真实验系统组成、操作方法及注意事项 ② 编制清零程序，使2000H~20FFH的内容清零。 实验电路 　 ⑴将存储器单元的D0～D7总线接口用8芯排线与数据总线单元D0～D7的任一接口相连，存储器单元的A0～A7地址接口与地址总线单元（低8）A0～A7的任一接口相连，存储器单元的A8～A15址接口与地址总线单元（高8）A8～A15任一接口相连。 ⑵存储器单元的WR/PGM插孔与六位LED左下方的WR或IOWR插孔相连。 ⑶存储器单元的CS1插孔连到六位LED右下方的A15插孔。 ⑷存储器单元的OE插孔连到六位LED左下方的RD或IORD插孔。 3.实验设计（程序框图、程序设计） 4.调试程序 5.实验结果及分析 6.思考题：把2000H—20FFH的内容改成FF，如何修改程序。 实验总结 评价教师签名： 日 期： 实验室： 实验时间： 班级： 姓名： 学号： 实验二：数据排序实验 实验目的和要求 1. 熟悉MCS-51指令系统，掌握程序的设计方法和技巧 2. 熟练掌握循环程序的设计方法 实验设备 Dais-586PH+单片机仿真实验系统、PC机 实验设计及调试 1.实验内容 编写并调试一个排序子程序，其功能为用冒泡法将内容RAM中几个单元字节无符号的正整数，按从小到大的次序重新排列。 2.实验电路 ⑴将存储器单元的D0～D7总线接口用8芯排线与数据总线单元D0～D7的任一接口相连，存储器单元的A0～A7地址接口与地址总线单元（低8）A0～A7的任一接口相连，存储器单元的A8～A15址接口与地址总线单元（高8）A8～A15任一接口相连。 ⑵存储器单元的WR/PGM插孔与六位LED左下方的WR或IOWR插孔相连。 ⑶存储器单元的CS1插孔连到六位LED右下方的A15插孔。 ⑷存储器单元的OE插孔连到六位LED左下方的RD或IORD插孔。 3.实验设计(程序框图、程序设计) 4.调试程序 5.实验结果及分析 6.思考题：修改程序，将50H—5AH中的内容按从大到小排列。 实验总结 评价教师签名： 日 期： 实验室： 实验时间： 班级： 姓名： 学号： 实验三：P1口亮灯实验 实验目的和要求 （1）学习P1口的使用方法； （2）学习延时子程序的编写。 实验设备 Dais-586PH+单片机仿真实验系统、PC机 实验设计及调试 1.实验内容 P1口作为输出口，接八只发光二极管，编写程序，使发光二极管循环点亮。 实验预备知识 （1）P1口对准双向口，每一位都可独立地定义为输出或输入。 （2）本实验中延时子程序采用指令循环来实现，机器周期（12/6MHz）*指令所需机器周期数*循环次数，在系统时间允许的情况下可以采用此方法。 2.实验电路 3.实验接线 P1.0~P1.7用插针连至L1~L8 4.实验设计（程序框图、程序设计） 5.调试程序 6.实验结果及分析 7.思考题 （1）改变延时常数，使发光二极管闪亮时间改变。 （2）修改程序，使发光二极管闪亮移位方向改变。 四、实验总结 评价教师签名： 日 期： 实验室：