可见光面阵CCD响应非均匀性的检测及校正.pdfVIP

第 卷 第 期 ， ２５ 　 ５ 液 晶 与 显 示 Ｖｏｌ．２５ Ｎｏ．５ 　 　 　 　 年 月 ， ２０１０ １０ ＣｈｉｎｅｓｅＪｏｕｒｎａｌｏｆＬｉｕｉｄＣｒ ｓｔａｌｓａｎｄＤｉｓ ｌａｓ Ｏｃｔ．２０１０ 　 　 　 ｑ 　 ｙ 　 　 ｐ ｙ 文章编号： （ ） １００７２７８０２０１００５０７５９０５ － － － 可见光面阵ＣＣＤ响应非均匀性的检测与校正 １ ２ １ １ ， ， ， 刘妍妍 李国宁 张 瑜 李洪祚 　 （ ， ， ： ； 长春理工大学电子信息工程学院 吉林长春 １． １３００２２Ｅｍａｉｌ Ｌｉｕ ３０６ １６３．ｃｏｍ 　 － ｙｙ ＠ ， ） 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 吉林长春 ２． １３００３３ 　 ： ， 摘 要 通过分析可见光面阵 ＣＣＤ 的响应非均匀性 提出了一种适用于所有面阵 ＣＣＤ 的响应非均匀性检测 　 。 ， 系统 利用该检测系统对全帧型面阵 ＣＣＤ４８５进行了辐射定标 建立了面阵 ＣＣＤ４８５数字图像的灰度值和积 ， 。 分球出口处辐照度之间的响应关系 并描绘了响应度曲线 从定标采集得到的数字图像可以看出灰度值有 ， ， ， 。 明显的跳跃 响应非均匀性已经超过了５％ 在微光拍照时将严重影响成像的质量 所以必须进行校正 根据 ， ， 面阵 ＣＣＤ响应度曲线来选择非均匀性校正算法 考虑到面阵 ＣＣＤ４８５的响应度为线性 这里采用了两点校正 ， （ ）， ， 算法 求出面阵 ＣＣＤ各个像元的校正因子 增益和偏置 并存储到校正矩阵中 通过乘积加法运算把各个像 。 ， 元的信号校正成面阵 ＣＣＤ 的平均信号值 实验结果表明 两点校正算法使面阵 ＣＣＤ４８５的响应非均匀性降 ／ ， 。 低到原