微晶粒径的测定.pptVIP

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  • 2017-06-17 发布于河南
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微晶粒径的测定

* * 第七节 微晶粒径的测定 多晶衍射测定微晶粒径的原理 晶粒细化会造成衍射峰的宽化。衍射峰的角宽度(2θ)与单个晶粒参加衍射的晶胞数N成反比。晶粒越小,单个晶粒参加衍射的晶胞越少,衍射峰就越宽。 多晶衍射测定微晶粒径的原理 晶体中不均匀应变等晶格缺陷也会造成衍射峰的宽化。如果晶体中没有不均匀应变等晶格缺陷,衍射峰的宽化是由于晶粒细化所造成的,则晶粒的大小Dhkl与衍射峰的宽化存在如下关系: Dhkl= 0.89λ/( B cosθ) 谢乐(Scherrer)公式 B为宽化系数, ,Bm为待测样品衍射峰的半高宽(弧度),Bs为标准样品衍射峰的半高宽(弧度) 。 (适用于1-100nm的微晶) 多晶衍射法测定晶粒大小的步骤 1. 选择标样:一般选-350目~+500目的石英粉; 2. 获取标样和待测样品的衍射图,并选择标样和待测样品的衍射峰(一般选择最强峰); 3. 用衍射仪对选定的衍射峰作精确测定; 4. 在衍射图上测定标样和待测样品特定衍射峰的半高宽; 5. 将实测数据代入公式 求出宽化系数B; 6. 将求得的B值代入公式 Dhkl=0.89λ/(Bcosθ)即可 求出晶粒大小。 实 例 t-ZrO2/α-Al2O3超细晶复合粉体

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